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更快速：二維探測(cè)器一次性采集獲取完整德拜環(huán)，單角度一次入射即可完成殘余應(yīng)力測(cè)量。 更精確：X射線單次曝光可獲得500個(gè)衍射峰進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合，結(jié)果更精確。 更輕松：無需測(cè)角儀，單角度一次入射即可，

s-Laue是日本Pulstec公司近期發(fā)布的一款基于圓形全二維面探測(cè)器技術(shù)的新一代X射線單晶定向系統(tǒng)。該設(shè)備配備六軸樣品臺(tái)，具有功率?。?0KV/1.5mA,因此輻射?。?、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高（典型測(cè)試時(shí)間為60秒）等特點(diǎn)，可提供臺(tái)式、便攜式(即將發(fā)布，敬請(qǐng)期待)兩種類型設(shè)備，既可滿足實(shí)驗(yàn)室對(duì)小樣品進(jìn)行單晶定向的需求，也可以用于大型零件的現(xiàn)場(chǎng)晶體定向。

測(cè)量原理基于X射線衍射理論。