特征X射線及其衍射X射線為一種波長（0.06-20納米）非常短的電磁波，可以將一定厚度的物質(zhì)穿透，并且可以讓體電離、照相機(jī)乳膠感光以及熒光物質(zhì)發(fā)光。使用高能電子束對金屬靶加以轟擊使X射線產(chǎn)生，其具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長，叫做特征X射線。例如0.154056納米為銅靶對應(yīng)的X射線波長。

X射線衍射儀的英文名稱為X-ray Powder diffractometer，XPD或XRD為其簡寫。有時會將其稱為x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer，XPD或XRD依然是它的簡寫。

應(yīng)用

油田錄井

Olympus便攜式X 射線衍射儀能夠?qū)r石的礦物組成及相對含量直接地分析出來，并且使定性、定量的巖性識別方法形成。使技術(shù)保障被提供給了錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質(zhì)剖面。特定的X 射線衍射圖譜為每種礦物所具有。樣品中某種礦物含量正比于其衍射峰和強(qiáng)度。一種物質(zhì)成分的衍射圖譜在混合物中與其他物質(zhì)成分的存在與否不相干。此為X 射線衍射做相定量分析的根基。X 射線衍射相當(dāng)于晶體的“指紋”。物質(zhì)不同，其所具有的X 射線衍射特征峰值(點(diǎn)陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)也會存在差異。若結(jié)構(gòu)參數(shù)不同存在差異，那么X 射線衍射線位置與強(qiáng)度也會有所不一樣，因此通過對X 射線衍射線位置與強(qiáng)度進(jìn)行比較就能夠?qū)⒉煌牡V物成分區(qū)分出來，地層中各種礦物的相對含量為X 射線衍射儀主要采集的對象，并且對包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分的標(biāo)準(zhǔn)圖譜進(jìn)行系統(tǒng)采集。巖石巖性能夠利用礦物成分的相對含量來加以確定，定量化的參考依據(jù)提供給了定量化的參考依據(jù)，使特殊鉆井條件下巖性識別準(zhǔn)確度得以提高。