小角X射線散射為一種與X射線大角（2θ從5 ～165 度）衍射有所不同的結(jié)構(gòu)分析方法。通過X射線對樣品進(jìn)行照射，相應(yīng)的散射角2θ比較小，只有5-7度，此就稱為X射線小角散射。對粒度在幾十個納米以下超細(xì)粉末粒子（或固體物質(zhì)中的超細(xì)空穴）的大小、形狀及分布加以測定以及對分析特大晶胞物質(zhì)的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析，即為X射線小角散射的用途。對于高分子材料而言，能夠測量玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，能夠分析共混的高聚物相結(jié)構(gòu)以及能夠?qū)Ω叻肿恿Ｗ踊蚩障洞笮『托螤钸M(jìn)行測量。

在高分子材料中的應(yīng)用

小角X射線散射現(xiàn)象普遍存在于天然的和人工合成的高聚物中，并且特征也較多且不盡相同。在高分子中，小角X射線散射主要具有如下幾個方面的應(yīng)用：

在天然的和人工合成的高聚物中，普遍存在小角X射線散射現(xiàn)象，并有許多不同的特征。小角X射線散射在高分子中的應(yīng)用主要包括以下幾個方面：

（1）對高分子體系中片晶的取向、厚度、結(jié)晶百分?jǐn)?shù)以及非晶層的厚度等進(jìn)行長周期的測定。

（2）高分子體系中的分子運(yùn)動和相變

（3）高分子多相體系的相關(guān)長度、界面層厚度和總表面積等通過Porod－Debye相關(guān)函數(shù)法進(jìn)行研究

（4）高分子的分子量通過對jue對強(qiáng)度的測量來進(jìn)行測定。

（5）高分子膠中膠粒的形狀、粒度以及粒度分布等通過Guinier散射來進(jìn)行測定

（6）結(jié)晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微區(qū)（包括分散相和連續(xù)相）、高分子中的空洞和裂紋形狀、尺寸及分布等通過Guinier散射進(jìn)行研究

1.離聚體

離聚體指的是有少量離子的聚合物存在于共聚物中。因為離子化的側(cè)基在高分子鏈上存在著，能夠使離子聚合體形成，從而使此類聚合物具有的結(jié)構(gòu)和性能都十分的獨(dú)特。在嵌段共聚物、膠體高分子溶液以及生物大分子等研究領(lǐng)域也能夠使用小角X射線散射技術(shù)。用來對分子量、粒子旋轉(zhuǎn)半徑以及形變和取向等進(jìn)行測量。

2、結(jié)晶聚合物

所謂結(jié)晶聚合物，事實上指的是部分結(jié)晶，其結(jié)晶度通常低于一半。小角X射線散射研究發(fā)現(xiàn)，高結(jié)晶度的線性聚乙烯、聚甲醛和聚氧化乙烯等聚合物的散射曲線尾部對Porod定理服從，使得近似于理想兩相結(jié)構(gòu)表明了出來。然而大部分結(jié)晶度較低聚合物的散射曲線顯示，尾部迅速降低，和尾部迅速降低，偏離，表面有過渡層存在于晶相與非晶相之間。