這款標(biāo)準(zhǔn)閃爍探測(cè)器采用YAG:Ce閃爍體,YAP:Ce晶體,LuAG:Ce晶體,BGO晶體, CaF:Eu晶體,CsI:Tl閃爍晶體制作而成，歐洲進(jìn)口，具有全球yi流的閃爍轉(zhuǎn)換效率，是電子、X射線、伽瑪射線、UV和EUV成像或探測(cè)的理想閃爍探測(cè)器。

標(biāo)準(zhǔn)的閃爍體探測(cè)器是圓形薄片，典型的直徑范圍為2mm到50mm,厚度范圍為0.1mm到5mm.當(dāng)然我們也可以提供其他各種形狀和大小的閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器, 閃爍晶體，包括：棱鏡型/球形或薄片型，并提供當(dāng)面拋光，雙面拋光和多面拋光。并提供鋁、或氧化銦錫的窗口等多種選擇。

這些閃爍體探測(cè)器和閃爍晶體可用于電子、X射線、伽瑪射線、UV和EUV的探測(cè)。

閃爍探測(cè)器我們提供的閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器,閃爍晶體由YAG:Ce, LuAG:Ce和YAP:Ce閃爍晶體材料構(gòu)成。目前提供如下三種選擇：
*標(biāo)準(zhǔn)的閃爍晶體：直徑可達(dá)50mm,厚度0.5-0.1mm.用于：X射線、電子、UV和EUV的成像。
*帶襯底閃爍體探測(cè)器：超薄YAG:Ce屏厚度可小到為0.005mm，耦合到光纖光學(xué)、玻璃、石英等襯底上使用?？捎玫囊?guī)格是：厚度為0.010mm直徑最大為40mm, 厚度為0.005mm直徑最大為25mm.
*獨(dú)立薄YAG:Ce閃爍探測(cè)器: 這種超薄成像屏是獨(dú)立使用的閃爍屏，不需要耦合到襯底上。目前可用的規(guī)格如下：
YAG:Ce閃爍晶體：厚度0.050mm的屏直徑最大是50mm,厚度為0.025mm的閃爍屏的最大直徑是10mm;
YAP:C閃爍體探測(cè)器：厚度0.1mm的屏直徑最大是50mm, 厚度為0.050mm的屏的最大直徑是10mm.

這種獨(dú)立使用的閃爍探測(cè)器非常脆，極易損壞，為此，我們?yōu)槟峁┝艘环N剛玉外殼用于保護(hù)閃爍晶體，或者提供陶瓷或鋼鐵外殼保護(hù)的閃爍體探測(cè)器。

Standard detectors usually have the shape of cylindrical plates. Typically, diameters range from 2 mm up to 50 mm and thickness from 0.1 to 5 mm.

A variety of other shapes and sizes, including prisms, spheres and thin plates can be made. An optional (one) face, both faces, or all surfaces can be polished.

A thin aluminum, carbon or ITO (Indium Tin Oxide) entrance window can be made as an optional extra. An optional Zr layers can be applied on the entrance window for EUV radiation. Also see Optional extras.
These detectors are intended to be used for the detection of electrons, X-ray, gamma, UV and EUV radiation.