- 2024-12-13 09:52:06、熒光分析儀
- 熒光分析儀是一種專業(yè)用于物質(zhì)成分分析的高精度儀器。它利用物質(zhì)在特定波長光的激發(fā)下產(chǎn)生熒光的原理，通過測量熒光光譜和強(qiáng)度，準(zhǔn)確、快速地測定樣品中的成分含量。該儀器具有測量準(zhǔn)確度高、分析速度快、操作簡便等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測、食品安全、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域。熒光分析儀能夠檢測多種元素和化合物，為科研、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了有力的支持。
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、熒光分析儀相關(guān)內(nèi)容
、熒光分析儀資訊
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- 【貼息貸款儀器推薦】微區(qū)X射線熒光分析儀—— XGT-900
- XGT-9000微區(qū)熒光分析儀擁有<15μm 超高強(qiáng)度X射線頭，兼具高靈敏度和高空間分辨率，支持高分辨相機(jī)和多種照明模式成像，且擁有熒光X射線檢測器、透射X射線檢測器，
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- EVIDENT發(fā)布新一代Vanta Element系列X射線熒光分析儀
- EVIDENT發(fā)布新一代Vanta Element系列X射線熒光分析儀
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- 新品發(fā)布 | EVIDENT發(fā)布新一代Vanta Element系列X射線熒光分析儀
- 澤權(quán)儀器作為Evident旗下奧林巴斯品牌XRF產(chǎn)品的授權(quán)一級代理商，將在國內(nèi)引進(jìn)這兩款儀器。
、熒光分析儀文章
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- HORIBA MESA-50K X射線熒光分析儀特點(diǎn)
- HORIBA作為XRF技術(shù)的先行者，其MESA-50K型號更是集多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)于一身，為用戶提供的分析性能和便捷的操作體驗(yàn)。本文將深入剖析MESA-50K的獨(dú)特之處，旨在為相關(guān)從業(yè)者提供一份詳實(shí)的參考。
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- 科邁斯手持式熒光分析儀K-600特點(diǎn)
- 該儀器采用先進(jìn)的熒光光譜分析技術(shù)，可快速、準(zhǔn)確地對樣品進(jìn)行定性和定量分析，尤其適用于環(huán)境監(jiān)測、化學(xué)分析、材料檢測等多個領(lǐng)域。本文將詳細(xì)介紹K-600手持式熒光分析儀的特點(diǎn)、技術(shù)參數(shù)和應(yīng)用場景，為科研工作者和工業(yè)從業(yè)者提供深入的產(chǎn)品理解。
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- 科邁斯手持式熒光分析儀K-600特點(diǎn)
- 它將緊湊機(jī)身、低功耗照明和高靈敏探測結(jié)合，支持快速定性定量分析、樣品篩選和現(xiàn)場確認(rèn)，適配化學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、食品藥品以及材料與工藝檢測等場景。下列內(nèi)容以產(chǎn)品知識普及為主，以參數(shù)、型號、特點(diǎn)等數(shù)據(jù)化信息呈現(xiàn)，方便科研與現(xiàn)場人員對比選型、快速定位需求。
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- 科邁斯手持式熒光分析儀K-600參數(shù)
- 本篇聚焦K-600系列的關(guān)鍵參數(shù)、型號差異與實(shí)際應(yīng)用要點(diǎn)，便于科研、實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)現(xiàn)場的技術(shù)對接與快速選型。
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- 科邁斯手持式熒光分析儀K-600參數(shù)
- 以下內(nèi)容以參數(shù)、型號與產(chǎn)品特點(diǎn)為核心，便于技術(shù)對比與采買決策。
、熒光分析儀產(chǎn)品
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- X熒光分析儀-德國斯派克SPECTROCUBE偏振能量色散X熒光分析儀
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- 日立 EA1000VX X射線熒光分析儀
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- 熒光分析儀-HORIBA X射線熒光分析儀MESA-50
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- 熒光分析儀-HORIBA MESA-50K X射線熒光分析儀
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、熒光分析儀問答
- 2021-01-21 14:20:32有效易用，智能堅(jiān)固——奧林巴斯新款在線X射線熒光分析儀Vanta iX登場
- 新款Vanta iX在線X射線熒光（XRF）分析儀現(xiàn)已上市。該分析儀可以對生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進(jìn)行自動材料分析和合金的牌號辨別，并即時提供結(jié)果，從而可對生產(chǎn)過程進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控，并對產(chǎn)品進(jìn)行100%無遺漏檢測。 全天候，有效易用Vanta iX可以全天時、全天候（24/7）運(yùn)行的分析儀，簡化了金屬制造和地質(zhì)選礦的質(zhì)量檢測過程。金屬制造過程需要受到全天時、全天候（24/7）的控制，以確保產(chǎn)品由正確的合金制造，避免出現(xiàn)代價高昂的材料混淆錯誤。 Vanta iX分析儀可以在幾秒鐘內(nèi)提供明晰的材料成分和合金的牌號信息，因此金屬制造商可以此證明他們的產(chǎn)品經(jīng)過了100%無遺漏檢測和驗(yàn)證。分析儀可提供通過/失敗結(jié)果，或完整的材料化學(xué)成分信息。在地質(zhì)選礦和采礦方面，分析儀可以對巖芯進(jìn)行掃查，對傳送帶上的礦石進(jìn)行分析，并提供實(shí)時結(jié)果，以監(jiān)控選礦和采礦過程中發(fā)生的變化，并確保礦石品位的一致性。強(qiáng)大的性能通過硅漂移探測器（SDD）和奧林巴斯業(yè)已成熟的Axon技術(shù)，這款分析儀可以對包括輕元素在內(nèi)的多種金屬和合金進(jìn)行檢測和牌號辨別。這款分析儀具有與其他Vanta系列分析儀相同的高計(jì)數(shù)率和穩(wěn)定性。智能整合傳輸Vanta iX分析儀易于安裝在制造環(huán)境中：使用其兩側(cè)的安裝孔就可將其安裝到機(jī)器人或其他系統(tǒng)上。通過Vanta Connect API（應(yīng)用程序編程接口）或一個PLC（可編程邏輯控制器），并借助離散導(dǎo)線，可以輕松控制分析儀。連接器選項(xiàng)包括用于以太網(wǎng)供電的以太網(wǎng)(RJ-45)、USB、離散I/O（16針）和輔助DC電源。堅(jiān)固，適合生產(chǎn) 這款分析儀通過了振動測試（MIL-STD-810G），符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn)，可在-10 °C至50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)工作，可以承受住生產(chǎn)設(shè)備的劇烈振動、強(qiáng)烈的電磁噪聲和聲學(xué)噪音、灰塵和濕氣的侵?jǐn)_。內(nèi)置散熱器可以降低分析儀內(nèi)部的溫度，如果需要進(jìn)一步冷卻，還可以通過風(fēng)扇連接點(diǎn)連接一個風(fēng)扇。無需使用工具，就可以更換分析儀的窗口，從而實(shí)現(xiàn)快速維護(hù)的目標(biāo)。
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- 2020-02-12 13:41:19X射線熒光分析儀-黃銅管路配件的裂紋分析
- 簡介 為了Z大限度地減少因產(chǎn)品缺陷造成的損失，必須在早期階段查明原因，采取措施防止問題再次發(fā)生。X射線熒光分析儀( ED-XRF)對任何狀態(tài)的樣品，不管是固體、液體還是粉末，都能提供快速、無損的元素分析，可以作為早期查明原因的篩選儀器使用。ED-XRF 下圖是因開裂發(fā)生漏水的黃銅管(用于冷卻水系統(tǒng))管路配件，我們利用ED-XRF對裂紋處進(jìn)行了元素分析。 根據(jù)元素分析結(jié)果發(fā)現(xiàn)Sn、Pb的含量是有差異的。由于裂紋部分的元素分布狀態(tài)不同于正常部位，就利用EPMA進(jìn)行了精密分析。EPMA EPMA能確認(rèn)元素的分布狀態(tài)及組織結(jié)構(gòu)的大小。利用EPMA進(jìn)行元素面分布，發(fā)現(xiàn)主要成分Cu和Zn的組織結(jié)構(gòu)大小不同總結(jié) ED-XRF能簡便、快速地獲得所含元素的信息。此外，根據(jù)這些元素信息還可以在早期階段確定后續(xù)的精密分析方法。EPMA的元素面分布，能獲得有關(guān)元素的分布狀態(tài)及成份信息，有助于查明故障發(fā)生的原因。
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- 2020-03-04 17:18:48X射線熒光分析儀-利用薄膜FP法測試膜厚
- 簡介 利用薄膜FP法測試膜厚為了提高產(chǎn)品部件的耐腐蝕性、裝飾性和功能性，電鍍等表面處理技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于各個行業(yè)。由于鍍膜的厚度與產(chǎn)品的特性、質(zhì)量及生產(chǎn)成本有關(guān)，因此管理非常重要，對鍍層厚度有著多種測試、分析和評定方法。X射線熒光光譜儀可以進(jìn)行無損、無標(biāo)樣分析，Z多能夠測試5層鍍膜。各種標(biāo)準(zhǔn)樣品的測試實(shí)例1.金鍍層樣品測試條件管電壓：50 kV準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ氣氛：大氣測試時間：60秒譜圖分析結(jié)果 2.鎳鍍層樣品測試條件管電壓：50 kV準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ氣氛：大氣測試時間：60秒譜圖分析結(jié)果3、鋅鍍層樣品測試條件管電壓：50 kV準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ氣氛：大氣測試時間：60秒譜圖分析結(jié)果4、銀鍍層樣品測試條件管電壓：50 kV準(zhǔn)直器直徑：0.9 mm Φ氣氛：大氣測試時間：60秒譜圖分析結(jié)果使用儀器：JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
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- 2018-12-08 14:24:55X熒光分析儀的簡介
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- 2018-11-25 05:51:23X熒光分析儀的工作原理及特點(diǎn)
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