新型電子探針顯微分析儀 JXA-iHP200F and JXA-iSP100發(fā)布
- 更先進的集成化EPMA -

日本電子株式會社(JEOL Ltd.,總裁：大井 泉）宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F和新型鎢/ LaB6電子探針顯微分析儀JXA-iSP100.

開發(fā)背景

電子探針顯微分析儀(EPMAs)作為研究和分析工具被廣泛用于鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等工業(yè)領域。此外，在學術領域 ，EPMAs用于地球空間科學、材料科學領域，不僅涵蓋礦物能源研究，而且涉及新型材料研究，從而為各種前沿研究做出貢獻。隨著EPMA應用的增加，EPMA用戶需要具有高度可操作性的簡單快速的分析，同時也要在特定感興趣區(qū)域保持高質量的痕量元素分析性能。為滿足這些需求，從觀察（光學和SEM圖像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持與波譜儀(WDS)、能譜儀(EDS)、陰極發(fā)光(CL)及其他技術的無縫集成。

主要特性

集成EPMA可實現(xiàn)簡單快速的操作

1.  高通量

任何人都能高精度無縫操作，從試樣交換到微區(qū)確定。

2.  高準確度分析

任何人都能夠在短時間內獲得高質量的分析數(shù)據(jù)。

3.  易于維護

由于僅在需要時才自動執(zhí)行維護，因此每個人都可以將EPMA系統(tǒng)維持在**狀態(tài)。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可擴展性，能配備WDS和EDS系統(tǒng)，還可配備做化學價態(tài)分析的軟X射線發(fā)射分光儀(SXES)、做晶體取向分析的電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD)、以及陰極發(fā)光檢測器(CL)。

Note: EPMA 是“Electron Probe Microanalyzer”的縮寫.

年度銷售目標70臺