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X射線熒光(XRF):理解特征X射線

來(lái)源:科邁斯(深圳)科學(xué)儀器有限公司 更新時(shí)間:2023-10-17 10:44:03 閱讀量:1082
導(dǎo)讀:手持式XRF光譜儀測(cè)試原理

什么是XRF?

       X射線熒光定義:由高能X射線或伽馬射線轟擊激發(fā)材料所發(fā)出次級(jí)(或熒光)X射線。這種現(xiàn)象廣泛應(yīng)用于元素分析。

XRF如何工作?

       當(dāng)高能光子(X射線或伽馬射線)被原子吸收,內(nèi)層電子被激發(fā)出來(lái),變成“光電子”,形成空穴,原子處于激發(fā)態(tài)。外層電子向內(nèi)層躍遷,發(fā)射出能量等于兩級(jí)能量差的光子。由于每個(gè)元素都有一組獨(dú)特的能級(jí),所以每個(gè)元素都會(huì)發(fā)出一組元素特有的X射線,稱為“特征X射線”。X射線強(qiáng)度隨相應(yīng)元素的濃度增加而增加。

理解特征X射線

       當(dāng)元素的電子在原子能級(jí)之間發(fā)生躍遷時(shí),就會(huì)發(fā)出特征X射線。如果一個(gè)電子從能量Ei能級(jí)躍遷到Ej能級(jí),發(fā)出的X射線能量Ex=Ei-Ej。因?yàn)槊總€(gè)元素都有一組獨(dú)特的原子能級(jí),所以發(fā)射出的X射線就是這個(gè)元素的特征X射線。

上圖是一個(gè)原子的草圖,顯示了不同的原子層級(jí),分別是K,L,M,N……這些特征X射線就是在層級(jí)之間躍遷產(chǎn)生的。圖中顯示這些線的命名方式:當(dāng)從外層躍遷到K層,則是K線特征X射線,以此類推。

上圖顯示Pb的特征X射線。K層電子結(jié)合能是88.04keV。Kβ線相當(dāng)于從M躍遷,能量85和87keV。Kα從L線躍遷,能量72和75keV,L線是躍遷到L層,能量10到15keV。M線是躍遷到M層,能量大概是2.5keV。

上圖是類似的譜圖,使用Ag測(cè)量譜圖。Ag的原子序數(shù)較低,K層能量只有25.5keV。使用低得多得能量激發(fā)。下圖顯示相同數(shù)據(jù),但范圍擴(kuò)大了。注意Pb的Kα1和Kα2很明顯,但Ag不同。這些峰主要原子亞殼層分裂,即自旋軌道耦合,這對(duì)較重的原子更為重要。

下圖對(duì)比了三個(gè)純?cè)刈V圖和一個(gè)黃銅樣品譜圖。黃銅是銅鋅合金,通常含有少量的Pb和其他元素。Cu和Zn的峰比較明顯,Pb峰較弱。這些峰表示樣品中存在這些元素。

下圖顯示同樣的樣品譜圖,但是黃銅使用對(duì)數(shù)刻度顯示。上圖中線性顯示清晰的顯示了主元素。對(duì)數(shù)圖譜顯示了一些很小的峰和在線性譜圖中沒(méi)有顯示出來(lái)的其他特征峰。

XRF定量分析

       特征X射線的強(qiáng)度與樣品中元素的濃度有關(guān),但這種關(guān)系并不簡(jiǎn)單。單個(gè)激發(fā)線的測(cè)量強(qiáng)度,比如說(shuō)Cu的Kα峰,取決于能量譜圖,入射X射線強(qiáng)度,X射線探測(cè)器效率,以及激發(fā)源和樣品之間的幾何結(jié)構(gòu)。同樣也取決于樣品中其他元素分布。黃銅中一些Zn的Kα X射線會(huì)與Cu原子相互作用,增強(qiáng)Cu線,降低Zn線。這就是基體效應(yīng)。

       定量分析軟件,比如AMPTEK的XRS-FP2軟件可以解決這些效應(yīng)。分析頻譜主要有三個(gè)主要步驟。第一,必須確定每個(gè)峰的強(qiáng)度,也就是總計(jì)數(shù),也稱每個(gè)峰的凈面積。這需要扣除背景,校正逃逸峰和其他損失的峰,分離重疊峰。第二,必須校正探測(cè)器及其窗口的靈敏度、幾何效應(yīng)和激發(fā)光譜。第三,必須校正基體效應(yīng)。

       簡(jiǎn)單的分析可能不需要完整的分析軟件。比如只需關(guān)心黃銅中Pb的含量,而黃銅中Cu和Zn的含量幾乎是固定的,Pb的濃度沒(méi)有太多的變化,那么可以使用幾個(gè)校準(zhǔn)樣品,得到Pb峰凈面積強(qiáng)度與濃度之間的經(jīng)驗(yàn)關(guān)系。但是對(duì)于不太理想的測(cè)量條件,需要進(jìn)行更復(fù)雜的分析。


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