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inTEST 熱流儀集成電路 IC 卡高低溫測試

來源:伯東企業(yè)(上海)有限公司 更新時間:2021-08-26 10:52:14 閱讀量:339
inTEST 熱流儀集成電路 IC 卡高低溫測試

集成電路 IC卡高低溫測試
集成電路 IC 卡高低溫測試原因:集成電路 IC 卡在出廠前必須經(jīng)過環(huán)境測試,用來模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能,inTEST-Temptronic 高低溫測試機憑借封裝級和晶片級集成電路專用高低溫測試機協(xié)助廠商完成例如高低溫循環(huán)測試 Thermal cycle、冷熱沖擊測試 Thermal stock、老化測試等試驗。inTEST-Temptronic 高低溫測試機每秒可快速升溫/降溫 18 度、測試溫度精度高達±1℃,特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫電性能檢測。

集成電路 IC 卡高低溫測試客戶案例一:上海伯東客戶是一家利用 300mm 晶圓進行芯片生產(chǎn)的半導(dǎo)體廠商,經(jīng)過技術(shù)選型,采購 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成電路 IC 卡高低溫測試。Temptronic ATS-505 臺式設(shè)計,體積輕巧,測試溫度范圍:-20°C 至 +225°C,采用旋鈕式控制面板,操作直觀。


Temptronic 集成電路高低溫測試方法客戶采用 Air Mode 模式直接測試:
Temptronic ATS-505 利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理,然后空氣經(jīng)由外部管路到達加熱頭進行升溫;將被測電路IC卡放置在熱流罩位置,根據(jù)操作員設(shè)定,噴出和設(shè)定溫度相差±1℃的氣流,從而進行電路板的高低溫測試。inTEST ATS-505 高低溫測試機自帶過熱溫度保護系統(tǒng),出廠設(shè)置溫度 +230°C,操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點,當溫度達到設(shè)置溫度時,測試機將自動停機。
集成電路 IC 卡高低溫測試


集成電路 IC 卡溫度測試客戶案例二:上海伯東客戶是一家 IC 卡生產(chǎn)企業(yè),經(jīng)過技術(shù)選型,采購 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低溫測試機,ATS-535 內(nèi)置空壓機,溫度測試范圍:-60°C 至 +225°C,適用于實驗室內(nèi)無空壓系統(tǒng)的客戶,方便移動。
集成電路 IC 卡溫度測試方法:客戶采用 DUT Mode 模式測試:
1、將待測 IC卡和溫度傳感器放置在測試腔中
2、操作員設(shè)置需要測試的溫度范圍
3、啟動 ThermoStream ATS-535 ,利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理,然后空氣經(jīng)由外部管路到達加熱頭進行升溫;氣流通過熱流罩進入測試腔
4、測試腔中的溫度傳感器可實時監(jiān)測當前腔體內(nèi)溫度,inTEST ATS-535 高低溫測試機自帶過熱溫度保護系統(tǒng),出廠設(shè)置溫度 +230°C,操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點,當溫度達到設(shè)置溫度時,測試機將自動停機。
Temptronic ThermoStream ATS-535 高低溫測試機

鑒于信息保密,更詳細的 Temptronic 集成電路IC 卡高低溫測試方法 歡迎撥打電話:021-5046-3511

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收購,成為在美國設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測試機的 制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收購,使 inTEST 更強化高低溫循環(huán)測試以及溫度沖擊測試領(lǐng)域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出 的溫度環(huán)境測試機,將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream  ATS 超高速溫度環(huán)境測試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST  總代理,全權(quán)負責 inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù)。
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