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• 2026-04-09 18:15發(fā)布了技術(shù)文章

  方寸之間顯真章：顯微膜厚儀如何在微米級(jí)區(qū)域?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)厚？

  在半導(dǎo)體封裝、Micro-LED以及MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）的世界里，測(cè)量的尺度已經(jīng)從“毫米”跨越到了“微米”。

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• 2026-04-02 09:30發(fā)布了技術(shù)文章

  納米級(jí)的“平衡術(shù)”：為什么光刻膠厚度控制是芯片良率的命門？

  在半導(dǎo)體制造的微觀世界里，每一層電路的生成都始于一場(chǎng)精密的光學(xué)博弈——光刻（Lithography）。

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng) NanoSense應(yīng)用領(lǐng)域

  微納尺度薄膜的厚度與均勻性直接決定半導(dǎo)體、顯示面板、MEMS等領(lǐng)域器件的性能與良率。悉識(shí)科技推出的反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)NanoSense，依托光譜反射干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)非接觸、高精度膜厚測(cè)量，覆蓋從科研表征到工業(yè)質(zhì)檢的全場(chǎng)景需求，以下結(jié)合其核心參數(shù)與實(shí)際應(yīng)用展開(kāi)專業(yè)分享。

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng) NanoSense參數(shù)

  悉識(shí)科技研發(fā)的反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)NanoSense，是針對(duì)微納尺度膜層厚度表征的高精度光學(xué)工具，采用寬譜反射光譜法核心原理，實(shí)現(xiàn)非接觸、高分辨率的膜厚測(cè)量，覆蓋實(shí)驗(yàn)室科研、半導(dǎo)體制造、顯示面板等多場(chǎng)景需求。以下從核心特點(diǎn)、關(guān)鍵參數(shù)及應(yīng)用場(chǎng)景展開(kāi)專業(yè)說(shuō)明。

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng) NanoSense特點(diǎn)

  微納尺度膜厚測(cè)量是半導(dǎo)體、顯示面板、新能源等領(lǐng)域工藝控制與質(zhì)量檢測(cè)的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)接觸式測(cè)量易損傷樣品、難以適配超薄膜/柔性基底，而悉識(shí)科技推出的反射式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)NanoSense，憑借非接觸、高分辨、寬量程的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，成為實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)檢測(cè)場(chǎng)景的主流工具。

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動(dòng)膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

  悉識(shí)科技NS-20/NS-20 Pro是針對(duì)微納尺度膜厚精準(zhǔn)表征設(shè)計(jì)的桌面式手動(dòng)膜厚儀，核心基于光學(xué)反射/橢偏原理，兼顧亞納米級(jí)分辨率與操作靈活性，適配實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)研究、工業(yè)批量檢測(cè)等多場(chǎng)景需求。兩款產(chǎn)品僅在測(cè)量范圍與數(shù)據(jù)處理功能上略有差異（NS-20量程0.1nm-50μm，Pro升級(jí)至0.1nm-

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動(dòng)膜厚儀參數(shù)

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手動(dòng)膜厚儀特點(diǎn)

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-30 系列 (桌面式自動(dòng)膜厚儀)應(yīng)用領(lǐng)域

  悉識(shí)科技NS-30系列桌面式自動(dòng)膜厚儀是面向?qū)嶒?yàn)室研發(fā)、工業(yè)質(zhì)量管控場(chǎng)景的高精度膜厚測(cè)量工具，核心優(yōu)勢(shì)在于非接觸式無(wú)損測(cè)量、亞微米級(jí)精度、自動(dòng)化掃描分析，其參數(shù)適配多行業(yè)膜厚檢測(cè)需求。以下結(jié)合各行業(yè)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景展開(kāi)說(shuō)明：

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-30 系列 (桌面式自動(dòng)膜厚儀)參數(shù)

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-30 系列 (桌面式自動(dòng)膜厚儀)特點(diǎn)

  悉識(shí)科技NS-30系列是針對(duì)實(shí)驗(yàn)室、科研及工業(yè)質(zhì)檢場(chǎng)景開(kāi)發(fā)的高精度自動(dòng)化膜厚檢測(cè)設(shè)備，聚焦多模式兼容與智能掃描分析，解決傳統(tǒng)手動(dòng)膜厚儀效率低、誤差大的痛點(diǎn)，適用于金屬鍍層、薄膜材料、涂層等多類型樣品的厚度表征。

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-Touch 彎曲表面膜厚儀（手持）應(yīng)用領(lǐng)域

  悉識(shí)科技NS-Touch是專為彎曲/曲面工件膜厚測(cè)量設(shè)計(jì)的手持便攜設(shè)備，針對(duì)傳統(tǒng)膜厚儀在圓柱、弧面、異形件等非平面場(chǎng)景下的測(cè)量誤差大、適配性差痛點(diǎn)，通過(guò)優(yōu)化探頭曲率與算法補(bǔ)償，實(shí)現(xiàn)高精度、快速檢測(cè)。其核心優(yōu)勢(shì)在于兼容*最小曲面半徑≥5mm*的工件，同時(shí)兼顧便攜性與數(shù)據(jù)管理功能，已廣泛覆蓋實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-Touch 彎曲表面膜厚儀（手持）參數(shù)

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• 2026-03-27 14:30發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 NS-Touch 彎曲表面膜厚儀（手持）特點(diǎn)

  彎曲表面（圓柱、球面、異形件等）的膜厚測(cè)量是實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)檢測(cè)的常見(jiàn)痛點(diǎn)——傳統(tǒng)手持膜厚儀因探頭貼合不均、壓力波動(dòng)，常導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏差達(dá)±0.3μm以上。悉識(shí)科技NS-Touch彎曲表面膜厚儀（手持）聚焦該問(wèn)題，通過(guò)自適應(yīng)曲面技術(shù)與微壓測(cè)量設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)/實(shí)驗(yàn)室場(chǎng)景下的高精度曲面膜厚檢測(cè)，以下從核心技術(shù)、

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• 2026-03-27 14:15發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀NS-Vista 應(yīng)用領(lǐng)域

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• 2026-03-27 14:15發(fā)布了技術(shù)文章

  悉識(shí)科技 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀NS-Vista 參數(shù)

  悉識(shí)科技推出的反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀NS-Vista，是針對(duì)薄膜厚度高精度表征的專業(yè)儀器，通過(guò)反射+透射雙通道同步測(cè)量突破單一模式局限，覆蓋納米級(jí)至微米級(jí)寬量程薄膜，適配實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、科研表征、工業(yè)檢測(cè)等多場(chǎng)景需求。

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