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• 2025-11-14 16:40發(fā)布了行業(yè)資訊

  2025半導(dǎo)體先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)工程師培訓(xùn)——光學(xué)顯微技術(shù)專題研修班邀請(qǐng)函

  半導(dǎo)體制造、封裝測(cè)試企業(yè)的工藝工程師、質(zhì)量工程師 ·精密制造、光學(xué)器件企業(yè)的檢測(cè)工程師、研發(fā)工程師 ·科研院所及高校精密儀器、微納測(cè)量研究方向人員 ·希望深入了解光學(xué)測(cè)量技術(shù)及半導(dǎo)體檢測(cè)應(yīng)用的行

  工程師 顯微鏡 半導(dǎo)體 95人看過(guò)

• 2024-07-08 16:58發(fā)布了行業(yè)資訊

  芯片開(kāi)封decap簡(jiǎn)介及芯片開(kāi)封在失效分析中應(yīng)用案例分析

  479人看過(guò)

• 2023-11-10 15:36發(fā)布了行業(yè)資訊

  FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)

  199人看過(guò)

• 2023-03-07 10:31發(fā)布了行業(yè)資訊

  劃片機(jī)在測(cè)高過(guò)程中發(fā)生異常如何自查

  測(cè)高系統(tǒng)自檢故障報(bào)警（模擬測(cè)高信號(hào)無(wú)法產(chǎn)生）

  劃片機(jī) 博捷芯劃片機(jī) 699人看過(guò)

• 2022-10-08 15:41發(fā)布了行業(yè)資訊

  突發(fā)！北方華創(chuàng)、長(zhǎng)江存儲(chǔ)等31家被拉入U(xiǎn)VL清單！

  根據(jù)美國(guó)聯(lián)邦公報(bào)，拜登政府宣布了對(duì)中國(guó)獲得美國(guó)半導(dǎo)體技術(shù)的新限制，并增加了旨在阻止中國(guó)推動(dòng)發(fā)展自己的芯片產(chǎn)業(yè)和提升該國(guó)軍事能力的措施。

  半導(dǎo)體技術(shù) 先導(dǎo)先進(jìn)材料 2195人看過(guò)

• 2022-01-03 06:55發(fā)布了行業(yè)資訊

  中國(guó)500強(qiáng)企業(yè)，哪些半導(dǎo)體公司入圍

  217人看過(guò)

• 2021-01-15 09:58發(fā)布了行業(yè)資訊

  光學(xué)設(shè)備供應(yīng)商匯總

  2230人看過(guò)

• 2020-09-14 10:14發(fā)布了行業(yè)資訊

  北軟外觀檢測(cè)顯微鏡分析

  426人看過(guò)

• 2020-09-09 15:11發(fā)布了行業(yè)資訊

  激光探針臺(tái)使用及測(cè)試內(nèi)容

  304人看過(guò)

• 2020-09-09 15:11發(fā)布了問(wèn)答

  激光探針臺(tái)使用及測(cè)試內(nèi)容

  激光探針臺(tái)使用及測(cè)試內(nèi)容？探針臺(tái)大家不陌生了，是我們半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室電性能測(cè)試的常用設(shè)備，也是各大實(shí)驗(yàn)室的熟客。優(yōu)點(diǎn)太多了，成本低，用途廣，操作方便，對(duì)環(huán)境要求也不高，即使沒(méi)有超凈間，普通的壞境也可以配置，測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定，客觀。深受工程師們的青睞。探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。最近北軟實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái)再升級(jí)，趁機(jī)為大家總結(jié)一下探針臺(tái)的用途，若您還有新發(fā)現(xiàn)，歡迎留言交流。激光探針臺(tái)服務(wù)內(nèi)容：1、激光打標(biāo)；2、表層修復(fù)線路（利用激光將兩層金屬線熔融連接）；3、驅(qū)除短路點(diǎn)；4、激光斷線；5、干擾芯片測(cè)試；除了以上幾項(xiàng)之外激光探針臺(tái)兼?zhèn)涑Ｒ?guī)探針臺(tái)功能：1.微小連接點(diǎn)信號(hào)引出  2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗(yàn)證一：手動(dòng)探針臺(tái)用途：手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failure analysis  集成電路失效分析                   Wafer level  reliability晶元可靠性認(rèn)證Device characterization 元器件特性量測(cè)               Process modeling塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析)IC Process  monitoring  制成監(jiān)控                     Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試Flat panel probing 液晶面板的特性測(cè)試                PC board probing  PC主板的電性測(cè)試ESD&TDR testing    ESD和TDR測(cè)試                      Microwave  probing  微波量測(cè)(高頻)Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析                              LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析二：手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤(pán)，開(kāi)啟真空閥門(mén)控制開(kāi)關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤(pán)上。2.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)ZX。5.待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過(guò)大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，ZH則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。6.確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以通過(guò)連接的測(cè)試設(shè)備開(kāi)始測(cè)試。常見(jiàn)故障的排除當(dāng)您使用本儀器時(shí)，可能會(huì)碰到一些問(wèn)題，下表列舉了常見(jiàn)的故障及解決方法。手動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)。

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• 2020-07-14 14:43發(fā)布了行業(yè)資訊

  半導(dǎo)體群合計(jì)

  250人看過(guò)

• 2020-06-29 16:47發(fā)布了行業(yè)資訊

  電性能測(cè)試

  567人看過(guò)

• 2020-06-29 16:43發(fā)布了行業(yè)資訊

  PCB失效分析方法

  338人看過(guò)

• 2020-06-29 16:42發(fā)布了行業(yè)資訊

  PCB檢測(cè)案例

  389人看過(guò)

• 2020-06-08 13:21發(fā)布了行業(yè)資訊

  芯片失效分析招聘FA銷售FA技術(shù)工程師

  330人看過(guò)

• 2020-05-18 11:52發(fā)布了行業(yè)資訊

  I/V Curve

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