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- angshaofei 2017-05-26 00:00:00
- 簡(jiǎn)介: 高光譜像或者像光譜結(jié)合數(shù)字像光譜二者功能; 于幅圖像每像素高光譜像光譜儀能夠獲量連續(xù)譜段光強(qiáng)(輻射強(qiáng)度)幅圖像每像素都包含連續(xù)光譜(輻射強(qiáng)度或反射比形式)些光譜精確詳細(xì)表征場(chǎng)景目標(biāo)特征 HySpex系列高光譜像光譜儀 HySpex高光譜像光譜儀基于種光ZL技術(shù)研發(fā)該系列像光譜儀于1995防空間應(yīng)用展像光譜研究設(shè)計(jì)現(xiàn)止世界許遙領(lǐng)域機(jī)構(gòu)配備我HySpex高光譜像光譜儀我NHSC像光譜儀具緊湊、高性能種型號(hào)特點(diǎn)適合機(jī)載面實(shí)驗(yàn)室工業(yè)同面應(yīng)用 HySpex高光譜像光譜儀主要特點(diǎn): 整視場(chǎng)光譜范圍內(nèi)具相同點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù) 點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)像素尺寸良匹配 低雜散光 低光譜梯形畸變效應(yīng) 低極化相關(guān)性 二階YZ 高靈敏度低噪聲 自快門 高采集速度數(shù)據(jù)率 實(shí)響應(yīng)度暗補(bǔ)償校 選放鏡用于短距離目標(biāo)測(cè)量 選視場(chǎng)擴(kuò)展視場(chǎng)增倍 HySpex高光譜像光譜儀主要特點(diǎn): 專門像光譜儀控制數(shù)據(jù)采集軟件包 光譜輻射標(biāo)定數(shù)據(jù) 詳細(xì)測(cè)量報(bào)告 所需附件電纜電源等 選API(應(yīng)用程序界面)用于VC++應(yīng)用程序發(fā) HySpex系列像光譜儀主要技術(shù)參數(shù) 型號(hào) HySpex-1024 HySpex-1600 HySpex-320i HySpex-320m 探測(cè)器 Si CCD 2048 x 2048像素 Si CCD 1600 x 1200像素 InGaAS 320 x 256像素 HgCdTe 320 x 256像素 光譜范圍 0.4 – 1.0微米 0.4 – 1.0 微米 0.9 – 1.7 微米 1.0 – 2.5 微米 空間像素?cái)?shù) 1024 1600 320 320 視場(chǎng) 18.4度 17度 14度 14度 瞬視場(chǎng) 0.5 mrad/ 0.5 mrad 0.18 mrad/ 0.36 mrad 0.75 mrad/ 0.75 mrad 0.75 mrad/ 0.75 mrad 光譜采 2.8納米 3.7 納米 5 納米 6.25 納米 譜段數(shù) 216 160 145 256 像素合并 1或2或4 2或4或8 數(shù)字化 12比特 12比特 12比特 14比特 幀頻 352幀/秒 135幀/秒 350幀/秒 100幀/秒 重量(千克) 4.5 4.6 6.8 7.5 尺寸(厘米) 31.3x 8.5 x 13.7 31.3 x 8.5 x 13.7 35.8 x 14.0 x 15.3 35.8 x 14.0 x 15.3 儀器功耗 6 瓦 6 瓦 30 瓦 100 瓦 制冷溫度 260K 1950K 輸接口 CamerLink CamerLink CamerLink或USB CamerLink 應(yīng)用:
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影響擊穿電壓的因素:
(1)水分,水分是影響擊穿電壓最靈敏的贓物。因?yàn)樗且环N極性分子,在電場(chǎng)力作用下,很容易被拉長(zhǎng),并沿著電場(chǎng)方向排列,從而在兩極間形成導(dǎo)電“小橋”,使擊穿電壓劇降。另外,擊穿電壓的大小不僅取決于含水量,還取決于水在油中所處的狀態(tài),通常乳化水對(duì)擊穿電壓影響很大,溶解水次之。
(2)油中含有微量的氣泡,也會(huì)使擊穿電壓電壓明顯下降,因?yàn)橛椭写嬖跉馀荩瑒t在較低電壓下氣泡便可游離,并在電場(chǎng)力作用下,在電極間形成導(dǎo)電“小橋”,使油被擊穿,降低了油的擊穿電壓。
(3)溫度對(duì)擊穿電壓的影響視油中雜質(zhì)和水分的有無(wú)而不同。不含雜質(zhì),并經(jīng)干燥無(wú)水分的油,一般溫度對(duì)擊穿電壓影響不大。但當(dāng)溫度升高到一定溫度時(shí),油分子本身因裂解而產(chǎn)生電離,且隨著溫度的升高,油品的粘度顯著減小,電離產(chǎn)生的電子和離子由于阻力變小而運(yùn)行速度加快,導(dǎo)致油品被擊穿,擊穿電壓顯著下降。
如果油中含有雜質(zhì)和水分時(shí),則在同一溫度下,其擊穿電壓比無(wú)雜質(zhì)。水分的油的擊穿電壓要低,溫度較低時(shí),油中水多呈懸浮狀,其擊穿電壓值較小,隨著溫度的升高,乳狀水逐漸變?yōu)槿芙鉅睿推返膿舸╇妷弘S之上升。但如果溫度升高到一定程度,則油中水分發(fā)生蒸發(fā),在油中造成氣泡的數(shù)目便會(huì)增加,而且由于溫度升高,粘度降低,使水分、雜質(zhì)和氣泡在油中形成導(dǎo)電“小橋”,使油的擊穿電壓又很快地下降。尤其是油中雜質(zhì)和水分都存在時(shí),這種導(dǎo)電“小橋”更易形成,擊穿電壓下降更明顯。
(4)當(dāng)油中既含有游離碳,又含有水分時(shí),油的擊穿電壓隨碳微粒量的增加而下降。
(5)油老化后生成的酸等產(chǎn)物,是使水保持乳化狀態(tài)的不利因素,因而會(huì)使油的擊穿電壓下降;而干燥不含水分的油,酸等老化產(chǎn)物對(duì)擊穿電壓影響不明顯,但確能使介質(zhì)損耗因數(shù)急劇增加。這時(shí),測(cè)定油的擊穿電壓不如測(cè)定介質(zhì)損耗因數(shù)更能判斷油的老化程度的原因所在。
- 影響差熱分析的因素有哪些?
差熱分析雖然廣泛應(yīng)用于熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)的研究,由于在文獻(xiàn)上對(duì)同一物質(zhì)往往給出不一致的數(shù)據(jù),使人們對(duì)差熱分析的應(yīng)用有點(diǎn)縮手不前。根據(jù)國(guó)際熱分析標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)的意見,認(rèn)為所發(fā)表數(shù)據(jù)的不一致性大部分是由于實(shí)驗(yàn)條件不相同引起的。因此,在進(jìn)行熱分析時(shí)必須嚴(yán)格控制實(shí)驗(yàn)條件和研究實(shí)驗(yàn)條件對(duì)所測(cè)數(shù)據(jù)的影響,并且在發(fā)表數(shù)據(jù)時(shí)應(yīng)明確測(cè)定時(shí)所采用的實(shí)驗(yàn)條件。影響差熱曲線的因素比較多,其主要的影響因素大致是下列幾個(gè)方面:
①儀器方面的因素:包括加熱爐的形狀和尺寸、坩鍋大小、熱電偶位置等。
②實(shí)驗(yàn)條件:升溫速率、氣氛等。
③試樣的影響:試樣用量、粒度等。
因此,在差熱分析時(shí)應(yīng)全面考慮各方面的影響因素和實(shí)驗(yàn)條件才能獲得好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
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