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QuanX型熒光能譜儀晶園上薄膜納米級薄膜厚度均勻度測量
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本文由 賽默飛世爾科技分子光譜 整理匯編
2005-04-20 00:00 402閱讀次數(shù)
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QuanX型熒光能譜儀晶園上薄膜納米級薄膜厚度均勻度測量
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- 小麥元素分布檢測-德國布魯克微區(qū)X射線熒光能譜儀M4TORNADOElementalDistributionExaminationonWheatSeedSamplesMeasurementConditionCustomerSampleObjective:ElementaldistributionexaminationofMn,Fe,Zn,Cu,Cd,P,S,Konwheatseedsamples(n=8,bothtransverseandlongitudinalsectionsfor4setsamples),asperreceived.LeftImage:Wheatseedsampleinnon-embedded,longitudinalandtransverseformrespectivelyRightImage:Samples(N=8)LoadingintotheM4SampleChamberAnalysisResult(a)HOSUT2–LongitudinalSectionCameraImage–10xmagnification(Left)andElementalMapping(Right)ofWheatSeedSample“HOSUT2Longitudinalsection”withcombinationofMn,Fe,Zn,Cu,Cd,P,SandKelement.IndividualElementalMappingofZn,FeandMnrespectivelyElementalMappingof(P+S),KandCurespectivelyAnalysisResult(b)HOSUT3–LongitudinalSectionCameraImage–10xmagnification(Left)andElementalMapping(Right)ofWheatSeedSample“HOSUT3Longitudinalsection”withcombinationofMn,Fe,Zn,Cu,P,SandKelement.IndividualPElementalMapping(Left)and“FalseColorDisplay”IndividualPElementalDistributionMapping(Right)onWheatSeed‘HOSUT3–LongitudinalSection’“FalseColorDisplay”:PhosphorusIntensitySaturationcorrelationineachmappingpixel.Forinstance,thered/blackareaiscorrelatedwithlow/nosulfurconcentration;Thephosphoruscontentisfoundhigherinblue/whiteareaascomparedtogreenarea,referringtotheintensitycolorindicatoronrightside.ElementalMappingof(K+S)and(Mn+Fe+Zn)respectivelyConclusionsAsdemonstrated,M4TornadoisabletoperformquickandnondestructivelyelementalmappinganalysisforexaminingvariouselementdistributiononwheatseedSamplesincludingthefollowingcapabilities:1.Highnumberofsamplesloadingatonetimewithlargesamplechamber2.VaryingElementalDistributionStudyincludingP,S,K,Mn,Fe,ZnandCuonwheatseedSamples3.“FalseColorDisplay”functionmodehelpsinelementdistributionexaminationtofurtherextent[詳細(xì)]
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2012-07-06 00:00
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