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韓國微先鋒X射線測厚儀/熒光測厚儀XRF-2000
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本文由 上海益朗儀器有限公司 整理匯編
2024-09-14 01:07 1227閱讀次數(shù)
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韓國微先鋒X射線測厚儀/熒光測厚儀XRF-2000
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韓國微先鋒X射線測厚儀/熒光測厚儀XRF-2000
- 韓國微先鋒X射線測厚儀/熒光測厚儀XRF-2000[詳細(xì)]
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2024-09-14 01:07
產(chǎn)品樣冊
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Fischer-XRay-Product x射線熒光測厚儀
- Fischer-XRay-Product x射線熒光測厚儀[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
產(chǎn)品樣冊
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CMI900系列X射線熒光測厚儀詳細(xì)說明
- CMI900系列X射線熒光測厚儀詳細(xì)說明[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
操作手冊
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X射線測厚儀的維護(hù)
- X射線測厚儀是一種非接觸式厚度測量裝置,可以實現(xiàn)連續(xù)實時的在線測量,是鋁板帶加工中廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵檢測設(shè)備。雖然國內(nèi)有很多不同型號的X射線測厚儀,但其工作原理是一致的,主要的構(gòu)成也大體相似。本文根據(jù)多年現(xiàn)場維護(hù)測厚儀的經(jīng)驗教訓(xùn),簡要介紹測厚儀的測量原理、硬件構(gòu)成和維護(hù)要點。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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微焦點X射線成像系統(tǒng)
- 微焦點X射線成像系統(tǒng)[詳細(xì)]
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2024-09-28 00:39
應(yīng)用文章
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Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀
- Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀[詳細(xì)]
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2025-08-11 11:12
產(chǎn)品樣冊
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X射線測厚儀校正標(biāo)準(zhǔn)片市場價格表
- X射線測厚儀校正標(biāo)準(zhǔn)片用于對X射線測厚儀進(jìn)行檢驗和校準(zhǔn),不單適合用使用X射線測厚儀的用戶,還可以適用于檢測的第三方機(jī)構(gòu)。本資料列舉常規(guī)材質(zhì)及常規(guī)厚度,如果需要特殊材質(zhì)或特殊結(jié)構(gòu)或特殊厚度,請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司的銷售人員。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
產(chǎn)品樣冊
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一種X射線測厚儀在線校正的方法
- X射線測厚儀的測量精度會受到諸多因素的影響,為了降低射線發(fā)生器射線強度變化對測量精度的影響,提出一種X射線測厚儀在線校正方法,改進(jìn)了X射線測厚儀的硬件裝置及軟件程序,實現(xiàn)實時修正X 射線發(fā)生器射線強度對測量精度的影響,從而在不影響生產(chǎn)進(jìn)度的同時,保證軋制帶材的公差要求。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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對珍珠的X射線微區(qū)分析(X射線分析顯微鏡)
- 對珍珠的X射線微區(qū)分析(X射線分析顯微鏡)[詳細(xì)]
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2024-09-17 01:56
期刊論文
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賽默飛 X射線冷軋測厚儀產(chǎn)品樣冊
- 賽默飛 X射線冷軋測厚儀產(chǎn)品樣冊[詳細(xì)]
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2016-10-18 14:42
安裝說明
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X 射線測厚儀射源電壓對測量的影響
- X射線測厚儀是板帶鋼軋制過程中質(zhì)量控制的關(guān)鍵儀器,為了保持良好的測量精度及測量靈敏度,需要根據(jù)測量厚度設(shè)置合適的射源電壓。但射源電壓的設(shè)置往往根據(jù)工人的經(jīng)驗,缺少實際依據(jù)。文章選取了普通多項式擬合模型作為曲線標(biāo)定的模型,討論了不同厚度的鋼板在不同射源電壓下的測量精度及測量靈敏度,并給出了如何設(shè)定**射源電壓的依據(jù),具有廣泛的應(yīng)用價值。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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X 射線測厚儀在熱軋系統(tǒng)的常見故障分析
- 介紹了 X 射線測厚儀的組成原理以及技術(shù)特點,對其應(yīng)用過程中出現(xiàn)的一些問題提出解決方案。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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X射線測厚儀測量精度的影響因素與維護(hù)
- 本文就x射線測量精度的影響因素進(jìn)行分析與論述,及其在x射線測厚儀在具體的使用過程中,應(yīng)該采取什么樣的措施進(jìn)行維護(hù),保障X射線測厚儀測量的極ng確度。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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槍擊殘留物的X射線微區(qū)分析
- 槍擊殘留物的X射線微區(qū)分析[詳細(xì)]
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2010-03-23 00:00
安裝說明
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礦石應(yīng)用-布魯克微區(qū)X射線熒光
- Stateoftheartmicro-XRFappliedtogeologicalsamplesMicro-XRFongeologicalsamplesM4TornadoLargesamples(H×W×D:200mm×160mm×120mm)Powerfulsamplestage(100mm/s,5kg)Pre-VacuumconditionsfordetectionofelementsdowntoNaPolycapillaryopticsforhighexcitationintensityandspotsize<25μmSDDsfordetection/processingofover100kcpsVariousmeasurementmodes(single-ormulti-point,linescans,areascans)Optional2ndX-raytubeOptional2nddetectorPositionTaggedSpectroscopy(HyperMap)Versatile"data-mining"softwareStandard-freequantificationScanoftheCetaceous/PaleogeneboundaryinRatonBasinUSThinsectionsmeasurements(64-bitOS)TraceelementsingarentThinsectionofagarentcontainingslateFullareamapshowssymmetricMncorewithinthecrystalsSelectedgarnetneasuredextensivelywithstrongprimaryfiltertoreducebackgroundandtoavoidBraggdiffractionpeaks370pixel×460pixel→170000pixelmapMeasurementtime:1s/pixelSteps:25μmSummaryUniquespeedandperfoimanceinthedeterminationoftheelementdistributioninlargesamplewithmeasurementtiomesperpixelof0.3msanduptp4MillionpixelsinasingleHyperMapHighspatialresolutiondownto25μmX-rayspotsize,motorsstepsof4μmOptimalfortheanalysisofinhomogeneoussamples,duetobetteridentificationoftherepresentativelocationofinterestNon-destructive,fastanalysisoflargesampleswithoutpreparation,includingsolid,poweroeliquidsamplesQualitativeandquantitativeanalysisofallelementsfromNaupwards,duetovacuumchamber,detectionlimitforheavytraceelementsinthelowppmrangeStandardlessFundamentalParameterquantificationwithtypecalibrationoptionPowerfulSoftwarewithmultipletoolsforoptimaldatamining[詳細(xì)]
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2018-08-15 10:57
產(chǎn)品樣冊
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X光鍍層測厚儀
- XRF2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值同比其他牌子相同配置的機(jī)器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的??蓽y量各類金屬層、合金層厚度等??蓽y元素范圍:鈦(Ti)鈾(U)原子序2292準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自動種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機(jī)綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計功能詳細(xì)資料請電:13761400826[詳細(xì)]
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2018-10-17 10:00
產(chǎn)品樣冊
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X射線成像儀
- 產(chǎn)品資料[詳細(xì)]
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2022-06-17 10:29
標(biāo)準(zhǔn)
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X射線探測
- X射線探測[詳細(xì)]
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2024-09-13 17:06
選購指南
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X 射線測厚儀在安鋼冷連軋中的應(yīng)用
- 通過對安鋼1550冷連軋生產(chǎn)線中德國IMS公司的ZX線X射線測厚儀的使用狀況,介紹了X射線測厚儀的特點、測量原理和系統(tǒng)組成。[詳細(xì)]
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2024-09-15 19:19
標(biāo)準(zhǔn)
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