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電介質(zhì)于膜厚測量應(yīng)用

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2024-09-28 01:08 550閱讀次數(shù)

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電介質(zhì)于膜厚測量應(yīng)用

電介質(zhì)于膜厚測量應(yīng)用[詳細]
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C11011-01W型光學微米膜厚測量儀利用激光相干度量學原理，測量速度達60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測量。此外，與Mapping工作臺聯(lián)用可以測量指定樣品的厚度分布。C11011-01W應(yīng)用廣泛，比如用于產(chǎn)品制造過程監(jiān)控或質(zhì)量控制。C11011-01W測量玻璃膜厚范圍分別為25 μm 到 2900 μm 和10 μm 到1200 μm。 [詳細]
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微米膜厚測量儀 C11011-01產(chǎn)品樣冊

C11011-01型光學微米膜厚測量儀利用激光相干度量學原理，測量速度達60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測量。此外，與mapping工作臺聯(lián)用可以測量指定樣品的厚度分布。C11011-01應(yīng)用廣泛，比如用于產(chǎn)品制造過程監(jiān)控或質(zhì)量控制。 C11011-01可測玻璃膜厚范圍分別為25 μm 到2200 μm 和 10 μm 到 900 μm. [詳細]
2020-03-10 12:38
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微米膜厚測量儀 C11011-21W產(chǎn)品樣冊

C11011-21W型光學微米膜厚測量儀利用激光干涉法原理，測量速度達60Hz，適用于產(chǎn)品線上在線測量。此外，與mapping工作臺聯(lián)用可以用于測量指定樣品的厚度分布。C11011-21W應(yīng)用廣泛，比如用于產(chǎn)品制造過程監(jiān)控或質(zhì)量控制。 C11011-21W可測玻璃膜厚范圍分別為25 μm 到2900 μm 和10 μm 到 1200 μm，可測層數(shù)Z多為10層。 [詳細]
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微米膜厚測量儀 C11011-21產(chǎn)品樣冊

C11011-21型光學微米膜厚測量儀利用激光干涉法原理，測量速度達60Hz，適用于產(chǎn)品在線測量。此外，選配的作圖系統(tǒng)可以用于測量指定樣品的厚度分布。C11011-01W應(yīng)用廣泛，比如用于產(chǎn)品制造過程監(jiān)控或質(zhì)量控制。C11011-21可測玻璃膜厚范圍分別為25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm，可測層數(shù)Z多為10層。 [詳細]
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Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀的產(chǎn)品手冊與具體參數(shù)。[詳細]
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Filmetrics F32 白光干涉膜厚測量儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個位置)。F32膜厚儀軟件[詳細]
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Filmetrics F54-XY-200 白光干涉膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。[詳細]
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