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• GB2423.33-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗kca:高濃度二氧化硫試驗方法

  GB2423.33-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca:高濃度二氧化硫試驗方法本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：高濃度二氧化硫試驗方法。本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。對試驗箱（室）的要求1.二氧化硫腐蝕氣體試驗箱（室，以下簡稱腐蝕箱）應(yīng)良好密封，以防止化學(xué)氣體逸出。它的有效空間應(yīng)滿足本標準3.1條河3.2條的規(guī)定，試驗箱并須配備適合的溫度、濕度測試和控制裝置。2.腐蝕箱內(nèi)接觸化學(xué)腐蝕氣體的附件和箱壁應(yīng)采用不與二氧化硫反應(yīng)、不吸收二氧化硫和不影響試驗氣體腐蝕效應(yīng)的材料制造。3.腐蝕箱內(nèi)有效空間的氣體應(yīng)該流動，風(fēng)速應(yīng)不大于1m/s.4.腐蝕箱的結(jié)構(gòu)應(yīng)保證凝結(jié)永不滴落在試驗樣品上，腐蝕箱還應(yīng)有排氣處理裝置，使排出的氣體不致污染實驗室及周圍大氣。5.試驗箱的功能檢驗應(yīng)符合本標準附錄A（補充件）的規(guī)定。免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca高濃度二氧化硫試驗方法

  GBT2423.33-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kca高濃度二氧化硫試驗方法.pdf[詳細]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GBT 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca高濃度二氧化硫試驗方法.pdf

  GBT 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca高濃度二氧化硫試驗方法.pdf[詳細]

  2015-04-20 00:00

  選購指南

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• 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗方法高濃度二氧化硫試驗

  本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品及其使用材料在化學(xué)腐蝕環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性。[詳細]

  2018-10-13 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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  GB-T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第二部分試驗Kca：高濃度二氧化硫試免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細]

  2024-09-17 01:54

  其它

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  GB-T2423.30-1999電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗方法試驗XA：和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬免費下載地址:http://www.bjzkhs.com北京中科環(huán)試儀器有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

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  GBT2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ee彈跳試驗方法[詳細]

  2018-10-05 10:00

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• GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A 低溫試驗方法

  GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A低溫試驗方法[詳細]

  2018-10-05 10:00

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• GB2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法

  GB2423.21-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗方法的嚴酷等級、預(yù)處理、初始測量、條件試驗、恢復(fù)和Z后測量。本標準適用于室溫條件下的低氣壓試驗。主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB/T2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境使用 第2部分：試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗

  GB/T2423.33-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境使用第2部分：試驗方法試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗技術(shù)參數(shù)：1、溫度范圍：RT＋10℃～50℃2、相對濕度：85%～95%R.H3、溫度均勻度：≤±2℃4、溫度波動度：≤±0.5℃5、氣體產(chǎn)生方式:鋼瓶法6、氧化硫氣體濃度：0.05～1%（體積百分比）7、氣體純度：99.9%8、時間設(shè)定范圍：0～9999H、M、S9、電源要求：AC220V/50HZAC380V/50HZ北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司電話:010-8128262081283267傳真:010-81282329手機:13810278121更多產(chǎn)品信息請瀏覽:http://www.bjlihui.com[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

  GBT2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法[詳細]

  2018-09-04 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB_T2423.19-1981_電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程_試驗Kc接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

  GB_T2423.19-1981_電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程_試驗Kc接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法本試驗可由中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備有限公司提供的二氧化硫鹽霧試驗箱來執(zhí)行，非標制作，詳情請咨詢中科美其（北京）科技有限公司試驗設(shè)備公司鹽霧試驗箱技術(shù)支持。[詳細]

  2018-09-05 10:00

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• GB2423.19-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

  GB2423.19-81電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法本標準提供加速試驗方法，以評定由于受硫燃燒生成物污染的大氣對接角點和連接件的腐蝕作用。本試驗方法特別適用于對比試驗。[詳細]

  2018-09-19 10:00

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• GB2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

  GB2423.19-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法本標準提供加速試驗方法，以評定由于受硫燃燒生成物污染的大氣對接觸點和鏈接件的腐蝕作用。本試驗方法特別適用于對比試驗。本試驗方法不能作為通用的腐蝕試驗，即可能不能預(yù)測接觸點和連接件再工業(yè)大氣中的耐腐蝕性能。免費下載地址：http://www.bjlihui.com北京北方利輝試驗設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A 低溫試驗方法.pdf

  GB2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A 低溫試驗方法.pdf[詳細]

  2015-01-05 00:00

  期刊論文

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• GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法

  GBT 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法[詳細]

  2014-06-28 00:00

  標準

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• GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法

  GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細]

  2014-05-22 00:00

  安裝說明

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• GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法

  GBT 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法[詳細]

  2014-03-04 00:00

  報價單

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• GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L：砂塵試驗方法

  GB2423.37-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L：砂塵試驗方法本標準規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗L：砂塵試驗方法本標準提供了三種砂塵試驗方法,SY于在砂塵環(huán)境中使用的電工電子產(chǎn)品。砂塵對產(chǎn)品的主要影響如下：a.侵入密封件和外殼b.改變電氣性能（如接觸電阻和表面泄露電流改變等）；c.阻滯和磨損軸承等運動部件；d.磨蝕表面，污染潤滑劑；e.阻塞通風(fēng)口、管道、過濾器、操作孔等；f.積塵可以成為水汽凝聚的核心，促進腐蝕和霉菌生長。免費下載地址：www.bjlihui.com北京北方利輝試驗儀器設(shè)備有限公司[詳細]

  2018-09-19 10:00

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