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IEC 68 溫度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
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IEC68-2-1TestsA:冷(Cold)IEC68-2-1AAmendment1.介 本法同用於生(Heat-dissipating)及不生(Nonheat-dissipating)之件,依方法之不同可分,度(Suddenchangeoftemperature)及度(Gradualchangeoftemperature)。本法主要目的在於定件、或其他件在低境下操作存之能力,但不用於估件在度改程中,可能生之影,若欲估此情,考"IEC68-2-14TestN:度化"。本法中之度在用之前,必先定此度化不件生影。2.一般描述 件於室件下置入,於度,先降至相所定之度值,再件置入;於度先件置入,再由室件降至相所定之度值。件俟度定後,再依定之留加以保。於不生之件一般以非操作之行,此制空流之方式可用於此。於生之件不宜使用制空流之方式,除非度法到所要求之度件。3.度(IEC68-2-1TestsA:冷)度(℃)-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5留(?。?,16,72,96
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IEC 68 溫度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- IEC68-2-1TestsA:冷(Cold)IEC68-2-1AAmendment1.介 本法同用於生(Heat-dissipating)及不生(Nonheat-dissipating)之件,依方法之不同可分,度(Suddenchangeoftemperature)及度(Gradualchangeoftemperature)。本法主要目的在於定件、或其他件在低境下操作存之能力,但不用於估件在度改程中,可能生之影,若欲估此情,考"IEC68-2-14TestN:度化"。本法中之度在用之前,必先定此度化不件生影。2.一般描述 件於室件下置入,於度,先降至相所定之度值,再件置入;於度先件置入,再由室件降至相所定之度值。件俟度定後,再依定之留加以保。於不生之件一般以非操作之行,此制空流之方式可用於此。於生之件不宜使用制空流之方式,除非度法到所要求之度件。3.度(IEC68-2-1TestsA:冷)度(℃)-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5留(?。?,16,72,96[詳細(xì)]
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2024-09-29 12:13
產(chǎn)品樣冊(cè)
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IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N :溫度變化
- 前言本試驗(yàn)法之目的在決定試件于溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。范圍本試驗(yàn)法可區(qū)分為:試驗(yàn)方法Na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。試驗(yàn)方法Nb:在特定溫度變率之溫度變化。試驗(yàn)方法Nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化。前二項(xiàng)適用于元件、裝備或其他產(chǎn)品,第三項(xiàng)則適用于玻璃-金屬密封及類似之產(chǎn)品。限制本試驗(yàn)法并不驗(yàn)證高溫或低溫環(huán)境效應(yīng),若欲驗(yàn)證此種條件,則應(yīng)采用"IEC68-2-1試驗(yàn)法A:冷"或"IEC68-2-2試驗(yàn)方法B:干熱"。測(cè)試步驟試驗(yàn)方法Na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。試件型態(tài)應(yīng)為無包裝、不加電及使用備便之狀況或其他相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。將兩部溫度柜分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。將試件置于低溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。將試件移于高溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。重復(fù)步驟d及步驟e之程序計(jì)4次。試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,并保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定?;貜?fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。試驗(yàn)方法Nb:在特定溫度變率之溫度變化。試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。將試件置于溫度柜內(nèi),試件形態(tài)應(yīng)為無包裝、不加電及使用備便之狀況或其他相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。若有相關(guān)規(guī)范需求,試件可成為操作狀態(tài)。將柜溫降至規(guī)定之低溫條件,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。將柜溫升至規(guī)定之高溫條件,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。高、低溫之溫度變率依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。[詳細(xì)]
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2018-10-25 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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國(guó)際IEC標(biāo)準(zhǔn)
- 國(guó)際IEC標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2014-02-13 00:00
實(shí)驗(yàn)操作
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IEC 61215標(biāo)準(zhǔn)中紫外試驗(yàn)的解讀
- IEC 61215標(biāo)準(zhǔn)中紫外試驗(yàn)的解讀[詳細(xì)]
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2024-09-29 05:18
操作手冊(cè)
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IEC 61646-2008
- IEC61646-2008[詳細(xì)]
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2018-09-14 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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IEC 68-2-5 試驗(yàn)方法 模擬地面上的太陽(yáng)輻射
- IEC68-2-5:1975試驗(yàn)方法模擬地面上的太陽(yáng)輻射太陽(yáng)輻射試驗(yàn)是一項(xiàng)會(huì)直接危害試驗(yàn)人員健康的試驗(yàn),為此試驗(yàn)前必須仔細(xì)閱讀GB/T2424-141995((電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則》第9章的內(nèi)容。1目的確定地面太陽(yáng)輻射對(duì)設(shè)備和元器件產(chǎn)生的影響(熱、機(jī)械、化學(xué)、電氣等)。2初始檢測(cè)按有關(guān)規(guī)范的規(guī)定,對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查,井進(jìn)行電性能和機(jī)械性能的檢測(cè)。3試驗(yàn)設(shè)備11進(jìn)行試驗(yàn)的試驗(yàn)箱的光源在規(guī)定的照射測(cè)量平面上,輻射強(qiáng)度應(yīng)為1.120kW/m`土1000,此值包括經(jīng)試驗(yàn)箱反射后被試驗(yàn)樣品吸收的輻射,但不包括試驗(yàn)箱發(fā)射的長(zhǎng)波紅外線。輻射強(qiáng)度的測(cè)量見GB/T2424.14-1995第6.1條的規(guī)定。光譜能量分布及容差見表10注:如果只考慮太陽(yáng)輻射的熱效應(yīng),見GB/T2424.14-1995中2.2和2.33.3試驗(yàn)箱內(nèi)的測(cè)溫裝置應(yīng)避免光源的輻射熱,溫度的測(cè)量在規(guī)定的照射平面(0~50mm的水平面上進(jìn)行,在試驗(yàn)樣品與箱壁之問的ZX處或距離試驗(yàn)樣品lm處(以短者為準(zhǔn))的一點(diǎn)或幾點(diǎn)作為溫度測(cè)量點(diǎn)。4條件試驗(yàn)4.1試驗(yàn)樣品應(yīng)放置在具有確定導(dǎo)熱率和熱容量的樣品支架或墊托物上,并應(yīng)與其他樣品相隔開以避免遮住輻射源或止次輻射熱,見GB/T2424.14-1995中4.6.4.2在整個(gè)試驗(yàn)期間.箱內(nèi)輻照度、溫度、濕度和其他環(huán)境條件應(yīng)按有關(guān)規(guī)范要求,保持在與試驗(yàn)程序相對(duì)應(yīng)的等級(jí)上。獲取標(biāo)準(zhǔn)全部?jī)?nèi)容請(qǐng)點(diǎn)擊,或聯(lián)系科文,我們會(huì)熱忱為您服務(wù)。[詳細(xì)]
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2018-10-11 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-70以及相關(guān)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
- 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 68-2-70以及相關(guān)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2024-09-17 17:43
安裝說明
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溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了設(shè)備的溫度沖擊試驗(yàn)方法,是制定設(shè)備技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于可能遇到溫度急劇變化環(huán)境的設(shè)備(如飛機(jī)不控溫機(jī)艙設(shè)備,或者外掛,空投,空運(yùn)設(shè)備)。[詳細(xì)]
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2024-09-28 02:43
產(chǎn)品樣冊(cè)
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IEC 60332-3 -2009
- IEC 60332-3 -2009[詳細(xì)]
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2012-12-06 00:00
期刊論文
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溫度變化試驗(yàn)方法
- 名稱資料:GB2423溫度變化試驗(yàn)方法公司名稱:東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司適合產(chǎn)品:快速溫度變化試驗(yàn)箱的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2018-10-23 10:31
產(chǎn)品樣冊(cè)
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G150-6溫度高度試驗(yàn)
- G150-6溫度高度試驗(yàn)[詳細(xì)]
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2024-09-28 10:50
安裝說明
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GJB150.19-86-試驗(yàn)方法-溫度-濕度-高度試驗(yàn)
- GJB150.19-86-設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-溫度-濕度-高度試驗(yàn)更過標(biāo)準(zhǔn)下載聯(lián)系:上海覽浩儀器設(shè)備有限公司[詳細(xì)]
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2018-09-03 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異
- 了解溫度沖擊試驗(yàn)和循環(huán)試驗(yàn)之比較請(qǐng)點(diǎn)擊:http://www.010sy17.com[詳細(xì)]
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2018-10-05 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2013-05-29 00:00
課件
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鹽霧試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- 鹽霧試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)本產(chǎn)品滿足GB2423.17《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》,鹽霧試驗(yàn)方法及ASTM-B117-73、GB/T1071-2007、GB10587、GJB150、DIN50021-75、JISC5028-75、ISO3768、3769、3770持續(xù)鹽霧等標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2018-08-19 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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鹽霧腐蝕試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- 產(chǎn)品說明:鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱乃針對(duì)各種材質(zhì)之表面處理,包含五金電鍍,五金,電子零部件,化工涂料,烤漆,汽車,摩托車,五金潔具,螺絲,彈簧,磁性材料,有機(jī)及無機(jī)皮膜,陽(yáng)極處理,防銹油等行業(yè)的品質(zhì)檢測(cè),測(cè)試其制品之耐蝕性。型號(hào):YWX/Q-150內(nèi)型尺寸D×W×H:450×600×400mm型號(hào):YWX/Q-250內(nèi)型尺寸D×W×H:600×900×500mm型號(hào):YWX/Q-750內(nèi)型尺寸D×W×H:750×1100×500mm型號(hào):YWX/Q-010內(nèi)型尺寸D×W×H:850×1300×600mm型號(hào):YWX/Q-020內(nèi)型尺寸D×W×H:900×2000×600mm一、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、技術(shù)規(guī)格1、溫度范圍:RT+5℃~55℃2、濕度范圍:85~98%R?H3、溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃4、溫度均勻度:≤±2℃5、鹽霧沉降量:1~2ml/80c?h6、空氣飽和器:RT+10℃~70℃7、壓縮空氣壓力(kg/cm2):2.00±0.018、噴霧方式:連續(xù)/周期任選9、試驗(yàn)時(shí)間:0~999H、M、S(可調(diào))10、周期時(shí)間:0~99H、M、S(可調(diào))11、試樣架:試樣架可滿足15℃~30℃傾斜試驗(yàn)(兩層);[詳細(xì)]
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2018-10-20 10:00
產(chǎn)品樣冊(cè)
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安全帽試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
- 安全帽試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)[詳細(xì)]
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2024-09-28 00:59
專利
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IEC臺(tái)式多用離心機(jī)
- IEC臺(tái)式多用離心機(jī)[詳細(xì)]
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2008-04-02 00:00
課件
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IEC 62321::2008中文版
- IEC 62321::2008中文版[詳細(xì)]
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2024-09-11 17:49
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