本文由 泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司 整理匯編

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之?dāng)嗫?D掃描形貌研究

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對(duì)粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫(yī)學(xué)組織細(xì)胞的幾何 掃描電鏡呈像時(shí)多采用的是二次電子或者背散射電子，獲取的圖像都是二維圖像，但是在很多時(shí) 候?qū)τ诒砻娌黄秸臉悠肺覀冃枰私馑?Z 方向上的襯度，例如斷口樣品的表面輪廓、粗糙度 或者某一特征區(qū)域的高度等等。[詳細(xì)]

  2021-05-24 14:51

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對(duì)粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫(yī)學(xué)組織細(xì)胞的幾何 尺寸進(jìn)行測(cè)量及統(tǒng)計(jì)， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應(yīng)用。[詳細(xì)]

  2024-09-14 21:11

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之醫(yī)學(xué)組織細(xì)胞的顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對(duì)粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫(yī)學(xué)組織細(xì)胞的幾何 尺寸進(jìn)行測(cè)量及統(tǒng)計(jì)， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應(yīng)用。[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:46

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• TESCAN掃描電鏡應(yīng)用之小鼠小腸組織表面形貌表征

  生物組織樣品具有質(zhì)地柔軟、容易變形、導(dǎo)電性差、二次電子發(fā)射率低及含水量多（有的含 水量可達(dá) 80%以上）等特點(diǎn)，所以它不能直接暴露在高真空狀態(tài)下的掃描電鏡中進(jìn)行觀察，可以 在超低真空水氣環(huán)境中直接觀察，也可以將樣品固定、脫水、干燥、噴金等處理后觀察。本次實(shí) 驗(yàn)中的小腸組織采用后者方法處理[詳細(xì)]

  2021-05-24 14:23

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之晶相樣品的顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對(duì)粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫(yī)學(xué)組織細(xì)胞的幾何 尺寸進(jìn)行測(cè)量及統(tǒng)計(jì)， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應(yīng)用。[詳細(xì)]

  2024-09-18 04:12

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• TESCAN掃描電鏡應(yīng)用之孢子觀察

  地球環(huán)境的急劇變化導(dǎo)致全世界植物群很多物種逐漸消失。因此，對(duì)植物的嚴(yán)密監(jiān)護(hù)很有必 要。孢子來自于山腳區(qū)的角苔類，是很重要的植物物種之一。每種植物都有自己特有的孢子結(jié)構(gòu)，植物學(xué)家通過觀察植物孢子的結(jié)構(gòu)和形貌，便可確定該植物在自然界的存在情況。[詳細(xì)]

  2024-09-18 04:19

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• TESCAN掃描電鏡應(yīng)用之金屬氧化物試樣

  金屬氧化物是一類重要的催化劑，在催化領(lǐng)域中已得到廣泛的應(yīng)用，將金屬氧化物納米化后， 其催化性能更加優(yōu)良。作為一種重要的材料表征手段，掃描電鏡可用于觀察金屬氧化物的表面形 貌、測(cè)量其顆粒尺寸等。[詳細(xì)]

  2024-09-15 06:02

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之生物樣品3D重構(gòu)

  FIB 能夠通過連續(xù)切片提供 3D 的形貌信息，尤其在生命科學(xué)領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景。但是生 物樣品都是經(jīng)過染色包埋處理，在掃描電鏡下很難找到需要切割的位置。TESCAN FIB-SEM 標(biāo)配 光電聯(lián)用軟件 X-Positioner 能夠很方便的實(shí)現(xiàn)熒光顯微鏡圖片的導(dǎo)航，快速的確定分析區(qū)域[詳細(xì)]

  2024-09-18 18:10

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之生物3D EBSD分析

  EBSD 技術(shù)是近年來發(fā)展比較迅速的一項(xiàng)材料微觀表征技術(shù)，越來越受到材料研究工作者的 青睞。隨著 FIB-SEM 的普及，3D EBSD 技術(shù)也逐步進(jìn)入材料學(xué)者的視野，但是由于以前在設(shè)計(jì) 上沒有認(rèn)真的考慮 3D EBSD 使用的方便性，使得這一技術(shù)遲遲沒有得到發(fā)展。[詳細(xì)]

  2024-09-27 02:12

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• 3D形貌測(cè)試儀

  3D形貌測(cè)試儀[詳細(xì)]

  2024-09-11 18:00

  選購(gòu)指南

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• TESCAN掃描電鏡應(yīng)用之鎳基高溫合金表面侵蝕的分析

  高溫下，鎳基高溫合金具有較高的機(jī)械強(qiáng)度、抗蠕阻力、良好的表面穩(wěn)定性和抗腐蝕氧化能 力，被廣泛應(yīng)用在航空航天、工業(yè)燃?xì)廨啓C(jī)、船用輪機(jī)工業(yè)等領(lǐng)域。當(dāng)其暴露于腐蝕性環(huán)境中， 合金表面的微結(jié)構(gòu)會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變化。電鏡配合能譜，結(jié)合 3D 分析可以對(duì)合金表面進(jìn)行深入分 析，解釋引起侵蝕的原因。[詳細(xì)]

  2024-09-14 09:56

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• FIB-SEM應(yīng)用之鎳基合金表面涂層研究

  Inconel 713C 鎳基高溫合的表面涂層,通常使用噴涂技術(shù)制備完成,其所使用的涂層材料是商 用的純硅和純鋁粉末,兩種粉末被分散于液態(tài)醋酸戊酯的有機(jī)粘結(jié)劑內(nèi)而形成噴涂涂料。噴涂完成 后,鎳基合金在氬氣保護(hù)氣氛中,經(jīng)過兩道熱處理程序,其表面即形成富硅-滲鋁涂層。[詳細(xì)]

  2021-05-24 14:48

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之鋰離子電池陰極材料研究

  近年來鋰離子電池已經(jīng)成為研究的一個(gè)熱點(diǎn)，而鋰離子電池的陰極材料在使用過程中的電化 學(xué)變化對(duì)電池的性能至關(guān)重要。EDS 能夠?qū)﹃帢O上不同元素進(jìn)行定性定量表征，但是對(duì)于 Li 元素則很不敏感。而 TOF-SIMS 能夠探測(cè)所有元素，尤其是低含量的輕元素，與 FIB-SEM 相結(jié)合則 進(jìn)一步提高了 TOF-SIMS 的空間分辨率，既能夠高分辨的觀測(cè)樣品的形貌與截面，又能夠高分辨 的表征各種元素[詳細(xì)]

  2024-09-24 01:38

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• 金屬檢測(cè)機(jī)應(yīng)用之食品篇

  金屬檢測(cè)機(jī)應(yīng)用之食品篇[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:21

  選購(gòu)指南

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之光電聯(lián)用功能實(shí)例

  眾所周知，掃描電鏡拍攝的形貌和成分圖都是灰度襯度，沒有色彩信息。在很多時(shí)候，肉眼 或者在其他儀器下觀察到的圖片是彩色的，同時(shí)又想在 SEM 下觀察該彩色區(qū)域的形貌或者成分襯 度，在 TESCAN 電鏡的軟件中標(biāo)配有 X-Positioner 和選配的 Coral 模塊，可以實(shí)現(xiàn)各種型號(hào)的 設(shè)備同掃描電鏡的聯(lián)用，利用照片進(jìn)行光學(xué)導(dǎo)航。[詳細(xì)]

  2021-05-24 14:39

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• TESCAN電鏡應(yīng)用之地質(zhì)行業(yè)的解決方案

  掃描電鏡是地質(zhì)行業(yè)試樣微觀形貌觀察的重要工具，同時(shí)配合能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。在 地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用中，TESCAN 有其獨(dú)特的解決方案，可獲得微區(qū)尺度形貌像和成分像、陰極熒光 信息和晶體結(jié)構(gòu)特征等[詳細(xì)]

  2024-09-12 20:50

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之TOF-SIMS輕元素分析

  大型的飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）是非常昂貴的元素及同位素分析設(shè)備，現(xiàn)在 TESCAN 已經(jīng)將小型化的 TOF-SIMS 集成于所有的 FIB-SEM 上了。[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:08

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• TESCAN CLARA 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM

  TESCAN CLARA 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM[詳細(xì)]

  2023-10-19 15:27

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 泰克信號(hào)發(fā)生器應(yīng)用之串行總線故障模擬

  泰克科技與合作伙伴基于信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)品提供了串行總線模擬仿真方案，無論是通用的RS232總線，還是有特定應(yīng)用場(chǎng)景的CAN、FLEXRAY，1553B總線， 都可以使用泰克函數(shù)發(fā)生器，配合專用的信號(hào)隔離適配器，在軟件控制下產(chǎn)生相應(yīng)的總線信號(hào)，并模擬各種總線故障條件下的輸出，信號(hào)隔離適配器可以將函數(shù)發(fā)生器的輸出端與被測(cè)設(shè)備進(jìn)行隔離，并增大信號(hào)的輸出驅(qū)動(dòng)能力。 [詳細(xì)]

  2024-09-11 17:52

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• FIB-SEM雙束電鏡應(yīng)用之樣品的截面拋光

  截面拋光是 FIB 主要用途之一。所謂截面拋光就是利用離子束將樣品剖開觀察內(nèi)部的結(jié)構(gòu)， 從而分析樣品內(nèi)部的微觀組織或缺陷。如下圖所示，為了分析焊接界面處的產(chǎn)物，需要將焊接處 剖開，從而可以對(duì)界面進(jìn)行成份和晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究。[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:49

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