本文由 上海科學儀器有限公司 整理匯編

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• NexION 2000 ICP-MS全新等離子發(fā)生器產品優(yōu)勢

  自從PerkinElmer-SCIEX公司于1983年S次商品化電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）以來，它就成為了發(fā)展Z快的痕量元素檢測技術，覆蓋了多個應用領域。隨著ZX抽頭接地線圈的設計突破，我們S次克服了ICP源與質譜儀成功聯結的障礙，從而將等離子體電勢降至Zdi，消除了等離子體與接地MS接口之間的二次放電問題。等離子體射頻發(fā)生器進一步發(fā)展后出現了獨特的不同步設計，在無活動部件的情況下，這種設計可以通過細微的頻率變化實現等離子體阻抗變化的即時匹配。另外，通過電平衡與地面電勢有關的等離子體使等離子體電勢保持在Zdi水平。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產品樣冊

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• 使用NexION 2000 ICP-MS分析飲用水和天然水

  本文介紹了NexION2000ICP-MS應用于U.S.EPA200.8方法時，在標準模式下分析天然水和飲用水樣品的實例。通過多種有證標準物質和加標回收率的分析驗證了方法的準確性，并通過至少九小時的分析驗證了方法的穩(wěn)定性。方法的檢測下限完全可以滿足200.8的要求。此外，智能電子稀釋功能可以選擇性地對某些待測元素的信號進行衰減，實現高低含量元素同步測定，可有效替代ICP-OES或火焰AA分析方法。NexION2000為U.S.EPA200.8方法提供了一套全面的解決方案。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產品樣冊

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• 采用NexION 2000 ICP-MS分析尿液中的微量元素

  在檢測尿液中的微量金屬元素時主要需要攻克兩大難關：基體產生的多原子離子干擾的存在和用于評估污染物接觸的某些元素的含量極低，包括砷（As）、鎘（Cd）、汞（Hg）等。PerkinElmerNexION2000ICP質譜儀（ICP-MS）的通用池系統(tǒng)具有標準（Standard）、碰撞（KED）和反應（DRC）三種模式，并具有三個氣路，可選擇的碰撞/反應氣體種類也很豐富，所以NexION2000能夠Z有效地排除干擾，準確地測定Zdi的濃度水平。[詳細]

  2018-08-17 10:00

  產品樣冊

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• NexION 2000樣本

  珀金埃爾默電感耦合等離子體質譜儀/ICP-MS NexION 2000產品樣本[詳細]

  2018-01-18 15:57

  產品樣冊

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• NexION 5000 ICP-MS新一代創(chuàng)新接口設計的優(yōu)勢

  NexION 5000 ICP-MS在超純水分析中的應用[詳細]

  2024-09-13 23:05

  應用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 飲用水中重金屬元素分析 Application Note (300002_CHN_02)

  NexION 2000 ICP-MS 飲用水中重金屬元素分析 Application Note (300002_CHN_02)[詳細]

  2024-09-20 13:31

  應用文章

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• PZ3等離子發(fā)生器產品資料

  PZ3等離子發(fā)生器產品資料——上海爾迪儀器科技有限公司[詳細]

  2022-10-11 15:01

  標準

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• NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)

  NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)[詳細]

  2024-09-28 13:35

  應用文章

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• Diener等離子表面處理設備優(yōu)勢

  德國Diener?electronic成立于1993年,是世界低溫等離子工業(yè)的,是一家專門研發(fā)和制造低溫低壓等離子清洗機、等離子射頻電源和大氣(常壓)等離子清洗機的高科技企業(yè)。 上海爾迪儀器科技有限公司是Diener的代理，如需更多Diener等離子設備詳細資料，可聯系上海爾迪儀器科技有限公司。[詳細]

  2024-09-14 22:39

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• NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)-1

  NexION 300 ICP-MS 分析電廠煙氣脫硫廢水的優(yōu)勢 Application Note (010397_01 _CN)-1[詳細]

  2024-10-05 00:52

  應用文章

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• ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基體進樣系統(tǒng) (AMS)

  ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基體進樣系統(tǒng) (AMS) [詳細]

  2020-07-17 14:16

  應用文章

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• ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基體進樣系統(tǒng) (AMS)

  ICP-MS 用于NexION ICP-MS的全基體進樣系統(tǒng) (AMS) [詳細]

  2024-09-10 22:38

  應用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 土壤樣品的快速消解與重金屬污染物檢測 Application Note (300001_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 土壤樣品的快速消解與重金屬污染物檢測 Application Note (300001_CHN_01)[詳細]

  2024-09-29 06:26

  應用文章

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• 按照U.S. EPA 6020B方法使用NexION 2000 ICP-MS分析土壤和水(013259_CHN_01)

  珀金埃爾默 按照U.S. EPA 6020B方法使用NexION 2000 ICP-MS分析土壤和水(013259_CHN_01)[詳細]

  2024-09-30 18:50

  應用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 按照U.S. EPA 6020B 方法分析土壤和水 Application Note (013259_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 按照U.S. EPA 6020B 方法分析土壤和水 Application Note (013259_CHN_01)[詳細]

  2024-09-16 03:36

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• 雙聚焦ICP-MS等離子質譜儀（SPECTRO MS）產品樣冊

  雙聚焦ICP-MS等離子質譜儀（SPECTRO MS）產品樣冊[詳細]

  2016-10-19 18:00

  應用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 App Note(300005_CHN_01)

  利用ICP-MS檢測痕量鈣（Ca）一直是一個難點，由于Ca自然豐度Z高的同位素（96.9%）為40Ca，與40Ar為同質異位素，使用常規(guī)方法無法測定。所以，通常對Ca進行檢測的標準方法中推薦的質量數，U.S.EPA200.8為43；國內HJ700-2014為44，測定下限為26.4μg/L。而43Ca和43Ca的自然豐度分別僅有0.14%和2.1%，在測定過程中由于靈敏度較低，且干擾消除不完全，容易導致檢出限偏高、結果精密度差等缺點。 NexION2000ICP-MS的通用池技術可以使用各種高純高反應性氣體對質譜干擾進行去除，對于40Ca，可以使用1**%純氨氣（**電離能10.16eV）對40Ar（**電離能15.76eV）進行去除，獲得亞ppb級的檢出限。這得益于NexION2000可以調諧和優(yōu)化通用池四極桿的RPq參數，使得高反應性氣體的各種副產物干擾被徹底去除。 40Ar+ + NH3 → 40Ar + NH3+ ΔHr = ΔIP = -15.76 eV+10.16 eV = -5.60 eV ( 放熱，反應自發(fā)進行) [詳細]

  2019-01-14 13:44

  應用文章

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• NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 Application Note (300005_CHN_01)

  NexION 2000 ICP-MS 評估水樣中鍶雙電荷對鈣的影響 Application Note (300005_CHN_01)[詳細]

  2024-08-26 13:53

  應用文章

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• NexION 300S ICP-MS測定硅晶片中的雜質

  NexION 300S ICP-MS測定硅晶片中的雜質[詳細]

  2013-07-17 00:00

  操作手冊

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• 耶拿aurora Elite ICP-MS 電感耦合等離子質譜儀

  耶拿aurora Elite ICP-MS 電感耦合等離子質譜儀[詳細]

  2025-08-21 16:10

  產品樣冊

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