本文由 徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司 整理匯編

2021-02-26 17:28 888閱讀次數(shù)

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• 德國(guó)徠卡 離子研磨儀EM TIC 3X產(chǎn)品樣本

  德國(guó)徠卡 離子研磨儀EM TIC 3X產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2021-02-26 17:28

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 使用離子束制備SEM樣品：徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀

  "如今，離子束蝕刻技術(shù)是應(yīng)用Z廣泛的電子顯微鏡樣品制備方法。在蝕刻過程中，高能氬離子束轟擊樣品，并根據(jù)其應(yīng)用領(lǐng)域調(diào)整離子束能量和切割角度。 在制備掃描電子顯微鏡樣品時(shí)，離子束蝕刻可改善或修改樣品表面質(zhì)量。 首先，離子束刻蝕能夠清潔、拋光或增加表面的襯度。經(jīng)離子束處理的樣品表面足以適用于各種靈敏的表面性能測(cè)試方法（如EBSD）。 另外，離子束刻蝕也可以通過斜面切割制備樣品的橫截面。 徠卡EM TIC 3X是一款離子束研磨儀，用于制備掃描電子顯微鏡樣品?？梢灾苽錁悠返臋M截面以及大面積表面。 樣品的橫截面還可以使用低能離子束再次處理。該處理過程既可以清洗橫截面，也能增強(qiáng)其襯度。 另外，EM TIC 3X可以通過離子束拋光工藝改進(jìn)樣品的機(jī)械拋光表面。樣品表面的Z大離子束制備直徑為 25mm，Z大樣品直徑為38mm。 離子束拋光可以清洗、拋光樣品表面，并增強(qiáng)其襯度，可以在一臺(tái)儀器中完成所有類型的掃描電子顯微鏡樣品制備流程。 該儀器配備了一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可配置5種適用于不同應(yīng)用的樣品臺(tái)：標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，冷凍樣品臺(tái)，多樣品臺(tái)，旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)和預(yù)抽真空系統(tǒng)，用以轉(zhuǎn)移冷凍樣品或易氧化的樣品。EM TIC 3X[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:25

  實(shí)驗(yàn)操作

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• 德國(guó)徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁(yè)

  德國(guó)徠卡 三離子束切割儀 EM TIC 3X產(chǎn)品單頁(yè)[詳細(xì)]

  2024-09-27 23:50

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 徠卡三離子束切割儀-Leica EM TIC 3X

  Leica EM TIC 3X 通過離子槍激發(fā)獲得的離子束，以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品，可獲得高質(zhì)量無應(yīng)力“切割”截面，便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復(fù)合材料等高難度制備樣品，并且操作簡(jiǎn)單，可有效避免涂抹效應(yīng)，不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面，使樣品暴露內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)信息。[詳細(xì)]

  2024-09-11 17:47

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 徠卡電鏡制樣產(chǎn)品資料_Leica EM TIC 3X離子研磨儀_樣本、參數(shù)、價(jià)格、應(yīng)用案例、配置對(duì)比等

  您是否需要制備硬的，軟的，多孔，熱敏感，脆性和/或非.均質(zhì)多相復(fù)合型材料，獲得高質(zhì)量樣品表面，以適宜于掃描電子顯微鏡{SEM)分析和原子力顯微鏡(AFM)檢測(cè)? Leica EM TIC 3X采用的寬場(chǎng)離子束研磨系統(tǒng)非常適合能譜分析EDS，波譜分析WDS,俄歇分析Auger,背散射電子衍射分析EBSD。離子束研磨技術(shù)適用于多種多樣材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面或拋光平面的解決方案。使用該技術(shù)對(duì)樣品進(jìn)行處理，樣品受到形變或損傷的可能性低，可暴露出樣品內(nèi)部真實(shí)的結(jié)構(gòu)信息。 徠卡EM TIC 3X可以靈活選擇多種樣品臺(tái)，不僅適用于高通量實(shí)驗(yàn)，也適合于特定制樣需求實(shí)驗(yàn)室。依據(jù)您具體需求，每一臺(tái)徠卡EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺(tái)，如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，三樣品臺(tái)，旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度敏感樣品制備。其與徠卡EM VCT環(huán)境 傳輸系統(tǒng)相連接，可以實(shí)現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護(hù)地被真空冷凍傳輸進(jìn)入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡(Cro-SEM)中,或者應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實(shí)現(xiàn)真空傳輸。 [詳細(xì)]

  2022-02-06 21:03

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 徠卡 三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊(cè)

  徠卡三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-28 00:31

  其它

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• 三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊(cè)

  三離子束切割儀 Leica EM TIC 3X產(chǎn)品樣冊(cè)[詳細(xì)]

  2024-09-13 00:40

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• 德國(guó)徠卡 臨界點(diǎn)干燥儀 EM CPD300產(chǎn)品樣本

  德國(guó)徠卡 臨界點(diǎn)干燥儀 EM CPD300產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2024-09-16 07:20

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 德國(guó)徠卡 精研一體機(jī)EM TXP產(chǎn)品樣本

  全新的精研一體機(jī)[詳細(xì)]

  2024-09-27 10:46

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 德國(guó)徠卡 離子減薄儀Leica EM RES102產(chǎn)品樣本

  徠卡Leica EM RES102是一款先進(jìn)的離子束研磨設(shè)備，帶有兩個(gè)鞍形場(chǎng)離子源，離子束能量可調(diào)，以獲得優(yōu)良的離子研磨結(jié)果。這一款獨(dú)立的桌面型設(shè)備集TEM,SEM和LM樣品制備功能于一體，這與市面上其他設(shè)備不同。除了高能量離子研磨功能外，徠卡EM RES102還可用于低能量很溫和的離子束研磨過程。[詳細(xì)]

  2024-09-28 18:10

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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• 德國(guó)徠卡 高壓冷凍儀 EM ICE產(chǎn)品樣本

  德國(guó)徠卡 高壓冷凍儀 EM ICE產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2024-09-28 08:04

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  德國(guó)徠卡 真空冷凍傳輸系統(tǒng) EM VCT500產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2024-09-30 09:06

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  德國(guó)徠卡 全自動(dòng)鍍膜儀 EM ACE 200 ACE600產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2021-02-26 17:33

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  德國(guó)徠卡 常溫冷凍超薄切片機(jī) EM UC7 FC7產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2024-09-28 01:21

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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  一款專門的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具[詳細(xì)]

  2024-09-27 10:45

  產(chǎn)品樣冊(cè)

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  德國(guó)徠卡 倒置顯微鏡 DMi1產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2021-03-17 11:16

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  德國(guó)徠卡 真空冷凍傳輸系統(tǒng) EM VCT500產(chǎn)品單頁(yè)[詳細(xì)]

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  德國(guó)徠卡 體式顯微鏡 S9產(chǎn)品樣本[詳細(xì)]

  2021-03-01 14:58

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