X射線顯微鏡為一種X射線成像術，也是一種顯微成像技術。也就是為了觀察研究方便而放大成像微觀的、肉眼無法分辨看出的結構和圖形的儀器。宏觀成像和微觀成像有比較相似的地方，例如襯度原理、設備的主要組成部件等，然而也有存在差異的地方。因為X 射線顯微鏡是用來對肉眼無法分辨的微觀結構與圖形進行觀察的，所以在儀器結構和要求上的差異明顯，例如要求光源具有較小的尺寸和較大的強度，要放大像和較高的分辨率等

掃描式X射線顯微鏡作用

在透射X 射線顯微鏡中，需要在入射光束中完全暴露整個被研究物，放大、完整的物像通過探測器來顯示。

入射光束在掃描式X 射線顯微鏡中通常被聚焦得如幾十個納米那樣細小，所以被光照射的僅僅只有物體上的一個很小的區(qū)域。這一個點的放大圖像被探測器得到。和移動物體與光的位置相對應，能夠使物體上各點的像逐點得到，往計算機逐點輸入這些點像，在處理以后完整的圖像在顯示器上被顯示了出來。通常通過掃描臺來實現(xiàn)。幾個納米能夠是掃描步距，既能夠是光路不動，樣品移動逐點掃描，也能夠是樣品不動波帶片掃描。通常為樣品移動有著比較低的分辨力，波帶片掃描有著比較高的分辨率。通常會有一個級次選擇光闌在聚光波帶片之后，需要的級次利用從波帶片產生的不同級次的衍射光中來進行選擇，并且對其他級次的光進行阻擋，從而使北京降低。

掃描式X 射線顯微鏡能夠對吸收襯度成像進行利用，也能夠對相位襯度成像進行利用，能夠使明場像獲得，也能夠使暗場像獲得。