幾何形狀是客觀世界中Z廣泛的物質(zhì)形態(tài)，而絕大部分物理量都是以幾何量的信息形式來進(jìn)行定量描述的。隨著科技的進(jìn)步、生產(chǎn)力的發(fā)展，幾何量計量檢測技術(shù)的作用及其重要性也日趨明顯。

十二月中旬，江蘇南京召開幾何量專業(yè)新規(guī)程/規(guī)范宣貫及技術(shù)交流會。會議內(nèi)容包括，講授國際單位制變革對幾何量計量影響的內(nèi)容，現(xiàn)代幾何精度控制、檢測技術(shù)及標(biāo)準(zhǔn)體系。以及對磁性電渦流式覆層厚度測量儀檢定規(guī)程》、《觸針式表面粗糙度測量儀校準(zhǔn)規(guī)范》、《水平儀檢定器檢定規(guī)程》等6項(xiàng)國家規(guī)程規(guī)范的變化以及6個地方新規(guī)程規(guī)范的實(shí)施進(jìn)行宣講和解答。

水平儀檢定器

是一種測量小角度的精密儀器，主要用于校驗(yàn)各種鉗工水平儀、框式水平儀和結(jié)構(gòu)水平器具的示值誤差、分度誤差、均勻性等技術(shù)指標(biāo)。當(dāng)轉(zhuǎn)動檢定儀的微動手輪時，儀器的載物工作臺通過機(jī)械機(jī)構(gòu)使工作臺的臺面傾斜，即臺面OA的A端變化升高或降低了h，使工作面產(chǎn)生傾斜小角度α,該角度由傳感器及相關(guān)電子線路記錄和處理，以數(shù)字形式用角度量秒值顯示在顯示屏上。

磁性電渦流式覆層厚度測量儀

測厚儀中的磁性覆層厚度測量儀一般用于測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度;電渦流式覆層厚度測量儀一般用于測量非性金屬基體上的非導(dǎo)電覆層的厚度。測厚儀按數(shù)值顯示方式可分為數(shù)字式和指針式兩大類;性覆層厚度測量儀按照工作原理又可分為磁阻式和磁力式兩種。電渦式覆層厚度測量儀是通過測量測頭與基體金屬之間因覆層引起電渦流變化，得到被覆層厚度。

觸針式表面粗糙度測量儀

評定零件表面質(zhì)量的臺式粗糙度儀?？蓪Χ喾N零件表面的粗糙度進(jìn)行測量，包括平面、斜面、外圓柱面，內(nèi)孔表面，深槽表面及軸承滾道等，實(shí)現(xiàn)了表面粗糙度的多功能精密測量。表面粗糙度的測量方法基本上可分為接觸式測量 和非接觸式測量兩類。在接觸式測量中主要有比較法、印模法、觸針法等;非接觸測量方式中常用的有光切法、實(shí)時全息法、散斑法、像散測定法、光外差法、 AFM、光學(xué)傳感器法等。觸針式表面粗糙度測量儀是Z常用、Z方便、 Z可靠的表面粗糙度測量儀，并且一直是各國國家標(biāo)準(zhǔn)及國際標(biāo)準(zhǔn)制定的依據(jù)。根據(jù)傳感器的不同原理，觸針式粗糙度儀可分為電感式、壓電式、光電式、 激光式和光柵式等，還可以分為有導(dǎo)頭式和無導(dǎo)頭式。導(dǎo)頭式粗糙度儀用于測量表面粗糙度，而無導(dǎo)頭式粗糙度儀除可用于測量表面粗糙度外，還可用于 測量表面波紋度和表面幾何形狀。

幾何量測量

一般可以分為兩種類型，一類以截面尺寸、空間交點(diǎn)及圓柱、圓錐等為對象，適合于接觸探測的測量任務(wù);另一類以大量細(xì)小的孔或槽為對象，或者以易劃傷、薄壁工件為對象，適合于非接觸探測的測量任務(wù)。近年來，隨著CCD攝像測量、激光測量等技術(shù)的發(fā)展，已經(jīng)使非接觸式坐標(biāo)測量機(jī)在解決第二類測量問題時的適用性、準(zhǔn)確性和高效率足以與接觸式測量機(jī)在解決類測量問題時相媲美，同時還使非接觸式測量由原來的純二維測量發(fā)展為三維測量技術(shù)。