PVA Munich Metrology - 晶圓表面測(cè)量/晶圓表面制備系統(tǒng)
PVA TePla America - 等離子表面清洗系統(tǒng)
氣體等離子系統(tǒng) IoN Wave 10
晶圓表面測(cè)量/晶圓表面制備系統(tǒng)
Jelight - 紫外氧清洗機(jī)
MunichMetrologyVPD系統(tǒng)及模組
MunichMetrologyGmbH,是PVATePla的全資子公司,擁有VPD,氣相分解設(shè)備超過二十年的VPD經(jīng)驗(yàn),無論在設(shè)備和應(yīng)用方面都是前沿供應(yīng)商。在2012年MunichMetrology被PVA-TEPLA收購(gòu),MunichMetrology產(chǎn)品目前是由PVA-TEPLA制造,擴(kuò)大其半導(dǎo)體集團(tuán)的計(jì)量功能。
產(chǎn)品:
WSMS-晶圓表面測(cè)量系統(tǒng)
MunichMetrology提供了zuixianjin的,完全整合的VPD測(cè)量系統(tǒng)。該WSMS包括前緣的VPD,氣相分解,zuixianjin,精密的化學(xué)品輸送系統(tǒng),自動(dòng)提供所需的所有集成的ICP-MS分析的校準(zhǔn)的化學(xué)品VPD和所有的化學(xué)物質(zhì)樣品采集系統(tǒng)系統(tǒng)。它是一臺(tái)用計(jì)算機(jī)控制的系統(tǒng),接受遠(yuǎn)程命令,并通過SECS/GEM工廠自動(dòng)化接口提供的測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)在一個(gè)完整的測(cè)量系統(tǒng)。該WSMS的優(yōu)點(diǎn)包括:
全自動(dòng)
zuidi的檢出限制
更快地取得測(cè)量結(jié)果
實(shí)時(shí)操作過程
通過精密,無錯(cuò),加藥,稀釋,混合和傳遞到兩個(gè)VPD和ICP-MS的操作精確測(cè)量
無需人工較準(zhǔn),降低成本
Utilities | Dimension |
Power:220/110V,2.2kW | Depth:1507mm |
WSPS - 晶圓表面制備系統(tǒng)(VPD Preparation)
WSPS系統(tǒng)包括處理模塊,機(jī)器人控制,錄像帶站cassettestations和固定負(fù)載接口站系統(tǒng)中的FOUPS,提供過濾后的潔凈空氣,工具和電源各個(gè)獨(dú)立模塊。WSPS軟件提供了完整的系統(tǒng)運(yùn)行能力和數(shù)據(jù)收集,包括定制配方設(shè)置,作業(yè)定義,作業(yè)執(zhí)行,晶圓優(yōu)先級(jí)和遠(yuǎn)程監(jiān)控和操作管理。
掃描整個(gè)晶圓表面無殘留
系統(tǒng)模塊設(shè)計(jì)
自動(dòng)處理功能
適用于硅片及其它材料表面
WSPS,WaferSurfacePreparationSystemandVPDModules
PAD-Fume
可編程自動(dòng)分解煙化機(jī)
PAD-Fume是MunichMetrology晶圓表面清洗裝置的模塊之一,用于分析硅片表面和其氧化物的超微量金屬污染。它也可與自動(dòng)液滴掃描器PAD-Scan以及PAD-Dry(只適用于全反射X射線熒光-TXRF分析)組合使用。

PAD-Fume,OxideEtchModule
PAD-Scan
可編程自動(dòng)液滴掃描器
PAD-Scan提供了一個(gè)高度敏感硅晶片VPD分析的新質(zhì)量。它的全自動(dòng)化操作,除去了人工操作所造成的所有微粒污染,降低空白試驗(yàn)值,從而大幅度提升并達(dá)到卓越的偵測(cè)度。
由于其掃描程序的精確控制,PAD-Scan把VPD打造成為一個(gè)能提供優(yōu)良重復(fù)性的可靠制備方法,是個(gè)適合用于前端工藝,針對(duì)晶圓表面質(zhì)量管理的理想方案。
由于精密的部分掃描模式,任何晶片的范圍皆可選擇用于收集VPD殘液。機(jī)器手的晶圓處理能力可用于所有晶圓,直徑達(dá)300毫米。

PAD-Scan,SampleCollectionModule
PAD-Dry
可編程自動(dòng)液滴烘干機(jī)
T只適用于全反射X射線熒光-TXRF分析。采用真空及適度的熱量,平均及快速地把晶圓烘干。

全自動(dòng)化系統(tǒng)操作
作為以生產(chǎn)導(dǎo)向工具的WSPS系統(tǒng)提供了自動(dòng)晶圓處理,包括SMIF和FOUPloadports的所有選項(xiàng)。所有以軟件標(biāo)準(zhǔn),如SECS/GEM與工廠控制系統(tǒng)結(jié)合。
VPD原理


以校準(zhǔn)了的化學(xué)溶液或超純水(50?350微升)先以移液管滴到晶片上。之后由高純度管作為引導(dǎo),在晶片表面形成可編輯的格局。在掃描完成后,管子將在一個(gè)短氮?dú)饷}沖下脫離液滴。
液滴可在晶片的預(yù)定位置上蒸發(fā)(用于TXRF分析),或利用移液管轉(zhuǎn)移到小瓶(用于ICP-MS分析)。掃描前后可以使用清洗液清洗,再用超純水沖洗掃描官子和移液管。
300/450mm橋梁工具
MunichMetrologyVPD系統(tǒng)和模塊可用于晶圓尺寸可達(dá)450mm。所有450毫米的產(chǎn)品以橋梁工具將兩個(gè)300和450毫米的晶圓一起工作。
系統(tǒng)翻新(RefurbishedSystems)
MunichMetrology可以將舊的GeMeTecVPD產(chǎn)品翻新成一臺(tái)先進(jìn)的系統(tǒng),請(qǐng)與我們的銷售聯(lián)系。
報(bào)價(jià):面議
已咨詢6142次量測(cè)儀器
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已咨詢386次可視化顆粒檢測(cè)
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已咨詢852次晶圓表面污染分析系統(tǒng)/晶圓內(nèi)應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)
報(bào)價(jià):¥95000
已咨詢71次高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
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已咨詢230次晶圓測(cè)溫
報(bào)價(jià):¥95000
已咨詢92次高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
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已咨詢231次溫度18788840124
YXLON Cougar EVO系列主要為SMT半導(dǎo)體和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用提供“絕佳"檢測(cè)解決方案,同時(shí)保持最小系統(tǒng)占用空間,以實(shí)現(xiàn)最大的便利性。優(yōu)質(zhì)設(shè)計(jì)和新的超銳顯示器簡(jiǎn)化,增強(qiáng)可靠的X射線檢查。
WEB9051離心機(jī)是WEB9000系列的最新型號(hào)。 是WEB Technology長(zhǎng)期在半導(dǎo)體晶片恒定加速度測(cè)試的研究成果。 設(shè)計(jì)重點(diǎn)強(qiáng)調(diào)安全性高,可靠性高和適應(yīng)性廣。
TherMoiré 設(shè)備系列能提供廣泛的平整度檢測(cè)特性技術(shù)。是溫度效應(yīng)測(cè)量技術(shù)的行業(yè)先鋒,全球二十大半導(dǎo)體生產(chǎn)商,都采用了Akrometrix的解決方案。
ABET 所制造的太陽(yáng)光模擬器(Solar Simulators) 及 IV、QE/IPCE 量測(cè)系統(tǒng) (IV-Testing Measurement Systems) 提供了無與倫比的價(jià)格和效能。
靈活丶高速丶定量的細(xì)胞成像系統(tǒng) 全面超越轉(zhuǎn)盤激光共聚焦的限制,為定量的活細(xì)胞成像而設(shè)計(jì)! Opterra II 專為活細(xì)胞長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)成像設(shè)計(jì),是對(duì)敏感活細(xì)胞樣本成像的最佳選擇。在蛋白質(zhì)定位和運(yùn)輸丶細(xì)胞內(nèi)離子成像丶微管和囊泡運(yùn)動(dòng)丶細(xì)胞核結(jié)構(gòu)和動(dòng)態(tài)等均有上佳表現(xiàn)。
世界上最快的超高分辨率顯微鏡 活細(xì)胞、高速、超高分辨率、3D 成像 分辨率 20nm@XY,50nm@Z, 采用單分子定位技術(shù),單層掃描時(shí)間 10 秒鐘。
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