ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡:從圖像采集到數(shù)據(jù)報(bào)告的完整工作流
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡在復(fù)合材料界面與結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作中的常見問題與維護(hù)概要
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡用于教學(xué)與科研中的三維形貌重建基礎(chǔ)
ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡在制藥與化妝品工業(yè)中的微觀觀察
在儀器設(shè)備的整個(gè)生命周期中,用戶的需求和研究方向可能會(huì)發(fā)生變化。一臺(tái)具備良好技術(shù)延展性和升級(jí)潛力的設(shè)備,能夠更好地適應(yīng)用戶未來的挑戰(zhàn),保護(hù)用戶的初期投資。ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡在其平臺(tái)設(shè)計(jì)上,考慮了一定的功能擴(kuò)展和升級(jí)可能,為用戶后續(xù)提升分析能力提供了選項(xiàng)。
探測(cè)器的擴(kuò)展與升級(jí)是常見的功能增強(qiáng)途徑。基礎(chǔ)的ZEM18系統(tǒng)通常標(biāo)配二次電子(SE)探測(cè)器和背散射電子(BSE)探測(cè)器,以滿足基本的形貌和成分襯度成像需求。隨著應(yīng)用的深入,用戶可能需要更專業(yè)的探測(cè)器以獲得特定信息。例如:
報(bào)價(jià):¥478500
已咨詢58次鎢燈絲掃描電鏡
報(bào)價(jià):¥480000
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