賽默飛推出的全新臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pharos 搭載肖特基場(chǎng) 發(fā)射電子槍，可穩(wěn)定提供超高信號(hào)質(zhì)量的顯微照片，這意味著無(wú) 需嚴(yán)苛的安裝條件，場(chǎng)發(fā)射電鏡便可以為更多科研工作者提供服 務(wù)。得益于 Phenom Pharos 對(duì)極簡(jiǎn)工業(yè)設(shè)計(jì)原則的秉持，這 款電鏡從安裝到實(shí)際使用的整個(gè)過程都極其簡(jiǎn)單。Pharos 設(shè)計(jì) 精巧，且選用了高質(zhì)量探頭，這使得它的成像速度超快，測(cè)試結(jié) 果穩(wěn)定可靠。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

能譜面掃描和線掃描 

元素面掃描功能顯示整個(gè)樣品的元素分布。指定像素分辨率和獲 取時(shí)間之后，即可獲取某元素的分布情況。實(shí)時(shí)面掃描算法實(shí)時(shí) 顯示所選元素的分布情況。對(duì)于用戶來說，只需選取感興趣的位 置即可。 線掃描功能顯示了線圖中的量化的元素分布。這對(duì)于涂層、涂料 和其他多層樣品尤其有用。所有的面掃描和線掃描功能的結(jié)果都 可以通過自動(dòng)化的報(bào)表模板輕松導(dǎo)出。

 二次電子探測(cè)器 

二次電子探測(cè)器 (SED) 可選用在 Phenom Pharos 上，SED 從 樣品的表層收集低能量電子。因此，它是分析樣品表面信息的最 佳選擇。SED 可以很好地應(yīng)用于表面和形態(tài)分析。在研究微觀結(jié) 構(gòu)、納米結(jié)構(gòu)或顆粒時(shí)，這就很有意義。

應(yīng)用多樣性 

為滿足不同領(lǐng)域的測(cè)試需求，Phenom Pharos 擁有多種特定功 能的樣品杯，如金相杯、溫控杯、原位通電杯和傾斜旋轉(zhuǎn)杯等。 測(cè)試時(shí)，您只需簡(jiǎn)單更換樣品杯，就能滿足特殊樣品的測(cè)試需求。