FT-331普通四探針方阻電阻率測試儀
描述:
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
FT-331普通四探針方阻電阻率測試儀
二.參照標準:
硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國標設計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
FT-331普通四探針方阻電阻率測試儀
三.適用范圍:
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動測量和系數(shù)補償,并帶有溫度補償功能,自動轉換量程;采用芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報表
用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產(chǎn)品
四.型號及參數(shù)
規(guī)格型號 FT-331
1.方塊電阻范圍 10^-5~2×10^5Ω/□
2.電阻率范圍 10^-6~2×10^6Ω-cm
測試電流范圍 0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA
4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%
6.顯示讀數(shù) 液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式 普通單電測量
8.工作電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W
9.誤差 ≤4%(標準樣片結果)
10.選購功能 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻.
11.測試探頭 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
12.標準電阻(選購) 規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ



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功能介紹Function introduction 儀器由底盤、支座、漏斗、量筒、無底玻璃試管、水槽、料盤、量角器等部件組成;可靈活地組裝成測量粉塵安息角、堆積密度和浸潤度的測定裝置;儀器包括公用底盤
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將漏斗及量杯固定于具有觀察窗的加熱箱,加熱箱有漏斗閥門控制及流速自動計時功能,無需人工轉運樣品,一體結構設計,便捷操作,溫度均勻.
GB∕T 1482-2022/ISO 4490:2018 金屬粉末 流動性的測定 標準漏斗法(霍爾流速計)測定流動性 GB/T 31057.1-2014顆粒材料 物理性能測試 第1部分:松裝密度的測量
通過振動和旋轉促使顆粒重新排列組合來均勻分散粉體顆粒物料,應用于微量或是少量樣品的分散; 振動方式分為高頻(適用于具有固結且流動性低粉體)和低頻(適用于流動性或顆粒度均勻性粉體)兩種模式;振動頻率可調(diào)
1.操作簡單 2.性價比高 3.流動性好