C-Therm Trident導(dǎo)熱系數(shù)測試儀
Trident HotDisk 瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀
Trident 瞬態(tài)平面源 Trident TPS
Trident 導(dǎo)熱儀 Trident MTPS
Trident 熱導(dǎo)率測量儀 TCi
儀器簡介:
EQS是差式泵式二次離子質(zhì)譜(SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe),可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用zui*技術(shù) 的SIMS探針,便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。
技術(shù)參數(shù):
應(yīng)用:
靜態(tài) /動態(tài)SIMS
一般目的的表面分析
整體的前端離子源,便于RGA和 SNMS
兼容的離子槍/ FAB 槍
成分/污染物分析
深度分析
泄漏檢測
與Hiden SIMS 工作站兼容
主要特點:
高靈敏度脈沖離子計數(shù)檢測器,7個數(shù)量級的動態(tài)范圍
SIMS 成像,分辨率在微米以下
光柵控制,增強深度分析能力
45°靜電扇形分析器, 掃描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM.
所有能量范圍內(nèi),離子行程的最小擾動,及恒定離子傳輸
差式泵3級過濾四極桿,質(zhì)量數(shù)范圍至2500amu
靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計數(shù)檢測器
Penning規(guī)和互鎖裝置可提供過壓保護
通過RS232、RS485或Ethernet LAN,軟件 MASsoft控制
報價:面議
已咨詢4920次等離子體-材料表面
報價:面議
已咨詢5024次等離子體-材料表面
報價:面議
已咨詢1804次半導(dǎo)體測試設(shè)備
報價:面議
已咨詢3286次飛行時間質(zhì)譜
報價:面議
已咨詢297次其他
報價:面議
已咨詢290次其他
報價:面議
已咨詢253次其他
報價:¥8000000
已咨詢674次SEM 掃描電子顯微鏡
Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用,包括聚合物,藥物,超導(dǎo)體,半導(dǎo)體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。
C-Therm的MTPS傳感技術(shù),使得導(dǎo)熱系數(shù)的測試更加簡單,更易進行。目前市場上沒有比之更快更簡便的測試導(dǎo)熱率、熱擴散率和吸熱系數(shù)的方法。
rident HotDisk 瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀具有寬泛的測量范圍,可對氣凝膠等絕熱材料,相變材料PCM,液體和粉末,聚合物,各向異性材料,薄膜以及含能材料等進行導(dǎo)熱系數(shù)測試。儀器操作簡單、可靠,測試時間短,精度高,重復(fù)性好,符合ISO 22007-2,GB/T 32064,ASTM D7984,D5334,D5930等標(biāo)準(zhǔn)。
除瞬態(tài)平面源TPS方法外,Trident還可另外選擇搭載MTPS改良瞬態(tài)平面熱源法和TLS探針法。
加拿大C-Therm的創(chuàng)新傳感器技術(shù)贏得過Manning Innovation Awards和R&D100創(chuàng)新獎,為全球諸多國際知名企業(yè)、科研機構(gòu)和院校所采用。
加拿大C-Therm的創(chuàng)新傳感器技術(shù)贏得過Manning Innovation Awards和R&D100創(chuàng)新獎,為全球諸多國際知名企業(yè)、科研機構(gòu)和院校所采用。
C-Therm的Trident熱常數(shù)分析儀,可在不同溫度范圍下測量多種材料的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴散系數(shù)、比熱以及吸熱系數(shù)。除傳統(tǒng)瞬態(tài)平面熱源法外,同一主機還可搭載先進的改良瞬態(tài)平面熱源法和耐用的探針法。測量范圍廣,測試快速,精度高,對樣品無損。
薄膜材料廣泛應(yīng)用于光學(xué)和電氣保護膜,薄膜光伏電池和薄膜電池等各種領(lǐng)域中。盡管薄膜材料已經(jīng)存在了數(shù)十年,但熱導(dǎo)率測量方法傳統(tǒng)上一直專注于探索塊體材料樣品,而表征這些特殊材料的能力相對滯后。近年來,由于熱管理非常重要的納米和微米級制造技術(shù)的進一步發(fā)展,知識鴻溝逐漸縮小,而Trident薄膜導(dǎo)熱測試儀的Flex TPS瞬態(tài)平面源即是一種用于表征薄膜材料導(dǎo)熱率的新穎工具。