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光度儀/光澤度儀
光度儀/光澤度儀
光電探測(cè)器
橢偏儀/橢圓偏振儀
單色儀/光柵單色儀
橢偏儀/橢圓偏振儀
白度計(jì)/白度儀
糖度儀
折光儀/折射儀
旋光儀
量子效率測(cè)試系統(tǒng)
橢偏儀/橢圓偏振儀
旋光儀
色差儀
量子效率測(cè)試系統(tǒng)
量子效率測(cè)試系統(tǒng)
光電探測(cè)器
量子效率測(cè)試系統(tǒng)
折光儀/折射儀
橢偏儀/橢圓偏振儀
色差儀
折光儀/折射儀
旋光儀
濁度計(jì)/濁度儀
光度儀/光澤度儀
橢偏儀-SE2000光譜式橢偏儀Semilab
SEMILAB 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測(cè)試系統(tǒng),適合各種薄膜材料的研究。
白光干涉儀-P3D
Proflim 3D是一款基于白光干涉儀的光學(xué)輪廓儀,采用相位掃描干涉技術(shù)(PSI)對(duì)納米級(jí)特征進(jìn)行測(cè)量,以及采用垂直掃描干涉技術(shù)(VSI)對(duì)亞微米至毫米級(jí)特征進(jìn)行測(cè)量。 Proflim 3D的程序設(shè)置簡(jiǎn)單靈活,可以進(jìn)行單次掃描或多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量,適用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。
Accurion EP4 成像橢偏儀
KLA 白光干涉儀Profilm 3D
※ 從納米級(jí)到毫米級(jí)的3D臺(tái)階高度 ※ 3D粗糙度、波紋度、翹曲度和形狀,紋理表征 ※ 3D缺陷表面形貌、缺陷表征 ※ 大型透明薄膜的表面進(jìn)行高分辨率掃描 ※ 高粗糙度,低反射率,劃痕表征
EXFO FTBx-735C 光時(shí)域反射儀(OTDR)
產(chǎn)品:EXFO FTBx-735C 光時(shí)域反射儀(OTDR)PON FTTx/MDU OTDR。高分辨率OTDR,設(shè)計(jì)用于城域網(wǎng)測(cè)試和在PON FTTx應(yīng)用中鑒定分光器。
EXFO FTBx-720C 光時(shí)域反射儀(OTDR)
產(chǎn)品:EXFO FTBx-720C 光時(shí)域反射儀(OTDR)LAN/WAN接入網(wǎng)OTDR,針對(duì)多模和單模接入網(wǎng)測(cè)試進(jìn)行了優(yōu)化在任何接入網(wǎng)中進(jìn)行日常現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的理想組建用OTDR。它配備用于單模和多模測(cè)試的iOLM應(yīng)用程序,是自動(dòng)化和智能程度最高的FTTA、LAN和數(shù)據(jù)中心故障診斷工具。
EXFO AXS-115 手持式光時(shí)域反射儀(OTDR)
產(chǎn)品:EXFO AXS-115 手持式光時(shí)域反射儀(OTDR)點(diǎn)對(duì)點(diǎn)(P2P)鏈路、接入和光纖接入(FTTX)網(wǎng)絡(luò)安裝與故障排除AXS-115極其便攜,適合各種用途,設(shè)計(jì)時(shí)尚,現(xiàn) 場(chǎng)應(yīng)用中可實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的光時(shí)域反射儀(OTDR)基本功能。
橫河AQ7290高端光時(shí)域反射儀
AQ7290 OTDR滿足了研究,制造和光學(xué)網(wǎng)絡(luò)分析中的廣泛范圍測(cè)試和測(cè)量需求,從訪問Core和Deliber:可靠性 - AQ7290的AQ7290強(qiáng)大的DesignAllows在惡劣的現(xiàn)場(chǎng)條件下進(jìn)行操作及其可靠的操作系統(tǒng)可確保穩(wěn)定性,及時(shí)的響應(yīng),及時(shí)的響應(yīng)以及針對(duì)軟件病毒攻擊的卓越保護(hù)。易于使用 - 該儀器通過多觸摸屏和硬鍵按鈕具有雙重操作模式,并通過新軟件應(yīng)用程序啟用了完全自動(dòng)的測(cè)量和易于閱讀的分析報(bào)告。此外,新安裝了一個(gè)簡(jiǎn)單的OTDR模式,以允許從初學(xué)者到資深工人的廣泛用戶。速度 - 隨著閃電般的啟動(dòng)和通過無線連接的立即報(bào)告,該OTDR的多任務(wù)操作可以提高生產(chǎn)力。
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積分球
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折光儀/折射儀
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濁度計(jì)/濁度儀
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色差儀
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色差儀
移動(dòng)端:光學(xué)測(cè)量?jī)x器
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