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深圳市善時(shí)儀器有限公司的iEDX-150T鍍層測(cè)厚儀采用非真空樣品腔，專業(yè)用于PCB電鍍鍍層分析、電路板鍍層膜厚分析測(cè)試及其他領(lǐng)域鍍層測(cè)厚，采用多種光譜擬合鍍層分析處理技術(shù)，可同時(shí)分析鍍層中的合金成分比例。
采用SDD探測(cè)器；可進(jìn)行多鍍層分析，Z多可達(dá)5層鍍層，測(cè)試精度0.001μm；三維自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，多點(diǎn)分析功能，元素分析范圍從Al~U。
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