中華人民共和國國家標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備方法
本標準(GB 5170.19-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法)規(guī)定了溫度/振動正弦)綜合試驗設(shè)備的基本參數(shù)檢定方法
本標準適用于溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
本標準所確定的檢定方法與按GB 2423.35電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法和GB 2423.36電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法進行試驗時所用試驗設(shè)備(以下簡稱設(shè)備)的基本參數(shù)的檢定方法相一致
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