紫外可見分光光度計(jì)的主要性能指標(biāo)有光度準(zhǔn)確度波長范圍波長準(zhǔn)確度波長重復(fù)性雜散光重復(fù)測量極ng確度基線穩(wěn)定性和平坦性狹縫寬度響應(yīng)時(shí)間及掃描速度等 這里主要介紹引起儀器測量誤差的幾個(gè)性能指標(biāo) 1光度準(zhǔn)確度 （1）光度準(zhǔn)確度的表示方法 光度準(zhǔn)確度是指實(shí)際測旦的光廢讀數(shù)值與真實(shí)值之差該偏差越小說明測量的數(shù)據(jù)越準(zhǔn)確可靠，或者說光度準(zhǔn)確度越高光度準(zhǔn)確度主要有吸光度準(zhǔn)確度和透射比準(zhǔn)確度兩種表示方法 吸光度淮確度或吸光度誤差用AA（或AA）表示，適剔比準(zhǔn)確度或透射比誤差用rA（或d F）表示絕大多數(shù)分光光度計(jì)制造廠商都向使用者提供儀器的吸光度準(zhǔn)確度或吸光度誤差A(yù)A（或dA），并都指出在什么吸光度情況下測量，同時(shí)還給出透射比準(zhǔn)確度或透射比誤差rA（或A T） 如美國Va貞凹公司的CMy5CMy500CaV600，美國PE公司的L咀1bda9L皿lbda900等儀器，給出吸光度在1．OA時(shí)，吸光度準(zhǔn)確度或吸光度誤差A(yù)A（或AA）為io．o034，透射比準(zhǔn)確度或透射比誤差rA（或d 7）為o．08％70日本島律公司的uvL260uv2450PcW2550Pc等儀器，給出在吸光度為一o．5時(shí)，吸光度準(zhǔn)確度或吸光廢誤差A(yù)A（或AA）為i00mA，吸光度為o．5一1．oA時(shí)，吸光度準(zhǔn)確度或吸光度誤差A(yù)A（或AA）為io．M4A，同時(shí)又給出透創(chuàng)比準(zhǔn)確度或透別比誤差7A（或A 7）為i o．3％7，北京普析通用公司的川1901川1800系列，北京瑞利公司的uvL2100，上海分析儀器總廠的760Mc等紫外可見分光光度計(jì)等，給出吸光度為一o．5時(shí)，吸光度準(zhǔn)確度或吸光度誤差A(yù)A（或AA）為io．肥A，吸光度為o．51．o八時(shí)，吸光度準(zhǔn)確度或吸光度誤差A(yù)A（或AA）為io．M4A，同時(shí)又給出透射比準(zhǔn)確度或透射比誤差7A（或A了）為io．3％rD （2）吸光度準(zhǔn)確度用于判斷儀器性能 李呂厚建立丁透射比誤差rA與吸光皮奧值4的關(guān)系，繪制了6條誤差曲線（圖4H）這6條誤差曲線可以覆蓋目前各國不同廠家制造的各種不同類型和型號的紫外可見分光光度計(jì)的誤差關(guān)系 操作人員只要知道使用的儀器的rA（根據(jù)儀器制造商提供或自己測試數(shù)據(jù)），再根據(jù)當(dāng)時(shí)測試的試樣的吸光度數(shù)據(jù)，就可以查得所測試數(shù)據(jù)由于儀器的TA而引起的相對誤差，從而判斷自己分析測試數(shù)據(jù)的可靠性 例如，所使用的紫外可見分光光度劉給出的yA為io．3％yP分析測試要求相對誤差為＜1％，通過查圖4U（查o．003T曲線）可知，由于受儀器本身yA（或A T）的限制，即使其他因素不產(chǎn)生誤差，它也只能滿足對吸光度為O．250．7的試樣的分析測試要求；如果試樣的吸光度＜o(jì)．254（濃度偏稀），或＞o．7（濃度偏高）時(shí)，測量誤差都將超過1％ 2．光譜帶寬 比耳定律建立的前提是入射光是單色光，而在實(shí)際中不可能從光譜儀器的單色器上得到真正的單色光，即使是選用儀器上設(shè)置的Z小光譜帶寬，也難以獲得純的單色光，只能得到波長范圍很窄的光譜帶*非單色光的光譜帶寬度與使用儀器的光譜帶寬有關(guān)，所用儀器的光譜帶寬越大，非單色光的光譜帶寬度就越大，光譜純度就越差，所引起的分析測試誤差就越大 我國和世界各國藥典規(guī)定用于藥檢的紫外可見分光光度計(jì)的光譜帶寬要求事2nm 3．雜散光 雜散光是指不應(yīng)該有光的地方所輻射的光雜散光是紫外可見分光光度計(jì)非常重要的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)，是儀器分析誤差的主要來源，直接限制被分析測試樣品濃度的上限當(dāng)一臺(tái)紫外可見分光光度計(jì)的雜散光定時(shí)，被分析的試樣濃度越大，其分析誤差就越大 雜散光對紫外可見分光光度計(jì)分析測試誤差的影響主要有兩種形式**種形式是雜散光的波長與測試波長相同它是由于測試波長的光線偏離正常的光路，在不通過測試樣品的情況下，直接照射到光電轉(zhuǎn)換器，L這類雜散光大多數(shù)是由i：光學(xué)元件機(jī)械零件的反射和漫肘所引起的第二種形式是測試波長以外的光．偏離正常光路而到達(dá)光電轉(zhuǎn)換器的光線這類雜散光通常是由光學(xué)系統(tǒng)的某些缺陷，如光學(xué)元件的表面被擦傷儀器的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)不好機(jī)械零部件加工不良，使光路位置錯(cuò)移等所引起的 紫外可見分光光度計(jì)752 紫外可見分光光度計(jì) 紫外可見分光光度計(jì)752 紫外可見分光光度計(jì)