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關于此項工作的更多詳細信息S次發(fā)表于 Optics Express 16129，2012 年 7 月 2 日，第 20 卷，14 號 [1]。
高質量多層光學鍍膜的設計師和制造商需要使用可靠的方法來準確測量薄膜材料的光學常數(shù)。他們通常使用紫外-可見-紅外分光光度計測得樣品在標準入射和接近標準入射情況下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成數(shù)據(jù)的準確性和任何誤差的來源（隨機或系統(tǒng)）將可以得到更可靠的樣品表征數(shù)據(jù) [2, 3]。
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