XRD的定量分析，尤其是多相晶體的定量分析，一直是XRD的應(yīng)用難點，傳統(tǒng)的定量分析方法包括內(nèi)標法外標法等但是，這樣的分析只能針對單相或簡單物相有用，且從本質(zhì)上講還是半定量，工程應(yīng)用可能性極小 XRD-Terra使用Rietveld 全譜擬合法，使定量分析真正實現(xiàn)了突破 Rietveld 全譜擬合法及高分辨X 射線粉末衍射實驗方法的出現(xiàn)與發(fā)展, 使X 射線粉末衍射進入了一個新階段, 不但提高了分析結(jié)果的質(zhì)量, 并且使從頭晶體結(jié)構(gòu)測定成為可能本文扼要介紹了Rietveld 全譜擬合法的理論; 高分辨高準確的粉末衍射裝置, 從頭晶體結(jié)構(gòu)測定方法及多晶材料結(jié)構(gòu)表征的全譜擬合法(包括作物相定性分析物相定量分析晶粒大小及點陣畸變的測定等) XRD-XRF集成分析儀 便攜式X射線衍射儀（XRD）Terra 小型臺式X射線衍射儀XRD-BTX