掃描電化學(xué)顯微鏡（Scanning Electrochemical Microscopy, SECM）現(xiàn)已發(fā)展成為一個(gè)具有權(quán)威性的儀器，它運(yùn)用電化學(xué)原理成像或表面修飾掃描電化學(xué)顯微鏡在很多領(lǐng)域都產(chǎn)生了巨大影響，諸如腐蝕，半導(dǎo)體刻蝕，金屬沉積和生物材料表面形態(tài)的研究 所有的掃描探針顯微鏡都是通過探頭頂端所接觸的表面進(jìn)行測(cè)試，來獲得檢測(cè)信號(hào)，即通過探頭頂端所接觸的表面進(jìn)行測(cè)試在掃描電化學(xué)顯微鏡測(cè)試過程中，超微電極會(huì)靠近接觸表面同時(shí)產(chǎn)生電活化物質(zhì)；作為后端接觸表面，它既有驅(qū)動(dòng)電化學(xué)反應(yīng)的作用又是超微電極與表面距離指示器超微電極測(cè)量的反饋電流主要取決于超微電極到表面的距離以及表面電子轉(zhuǎn)移的速度，常常用來監(jiān)測(cè)超微電極的逼近方式 如今，Nanonics研發(fā)出針對(duì)SECM的獨(dú)特探針這是建立在Nanonics微電極所特有的特殊ZL：錐形玻璃包裹和懸臂技術(shù)的基礎(chǔ)之上的；這些微電極可適用于所有Nanonics SPM/NSOM平臺(tái)并具有獨(dú)特的光學(xué)反饋平臺(tái)的突出特點(diǎn)是其光學(xué)友好性，能兼容包括常規(guī)拉曼在內(nèi)的所有光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)能夠從底部頂部及側(cè)面，從各個(gè)幾何學(xué)角度進(jìn)行光學(xué)測(cè)量 Nanonics 掃描電化學(xué)顯微鏡 Nanonics近場(chǎng)掃描光學(xué)電鏡與Renishaw激光微拉曼光譜連用 Nanonics近場(chǎng)光學(xué)掃描顯微鏡(NSOM/SNOM)