MTEST系列原位測試儀簡介及主要產(chǎn)品介紹:
原位測試(微觀力學(xué)測試+可視化監(jiān)測):在納米尺度下對試件材料進(jìn)行力學(xué)性能測試,可兼容集成掃描電子顯微鏡(SEM)X射線衍射儀(XRD)Raman光譜儀原子力顯微鏡(AFM)圖像控制器(CCD)金相顯微鏡等成像設(shè)備對材料發(fā)生的微觀變形損傷進(jìn)行全程動態(tài)監(jiān)測的一種力學(xué)測試技術(shù),深入的揭示了各類材料及其制品的微觀力學(xué)行為損傷機(jī)理及其與載荷作用和材料性能間的相關(guān)性規(guī)律 長春機(jī)械院Mtest材料微觀力學(xué)原位測試儀
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