納米技術的發(fā)展將對各個行業(yè)領域產(chǎn)生重要影響由于納米顆粒 (NP) 的理化性 質(zhì)較為新穎，它們的許多環(huán)境歸宿和毒理學性質(zhì)仍然不為人知因此，人們對一 種能夠快速準確而靈敏地完成各種類型樣品中納米顆粒表征與定量的技術的需 求也日益增長ICP-MS 技術中稱作單顆粒 ICP-MS (sp-ICP-MS) 的方法可用來 測定單個納米顆粒該方法在一次快速分析中可同時測定納米顆粒的粒徑粒徑 分布元素組成和計數(shù)濃度 [1-3]我們對 ICP-MS 硬件和軟件的Zxin升級進一 步改善了這一技術 安捷倫針對 ICP-MS MassHunter 軟件開發(fā)出一種專用的單納米顆粒應用模 塊 (G5714A)，可簡化使用 Agilent 7900 ICP-MS 進行 sp-ICP-MS 分析的過程 7900 ICP-MS 系統(tǒng)使用短駐留時間（1 ms 以下）和快速時間分辨分析 (TRA) 模式，能夠在快至 100 s 的采樣速率下完成單元素采集，且 無需穩(wěn)定時間該方法在單顆粒信號脈沖期間可進行多次 測定，顯著降低了相鄰顆粒信號重疊的風險該方法的另 一優(yōu)勢在于可使用較低的樣品稀釋比例和更短的樣品采集時 間sp-ICP-MS 分析產(chǎn)生的海量數(shù)據(jù)可由單納米顆粒應用 模塊管理并處理 [4] 本文利用金 (Au) 和銀 (Ag) 納米顆粒參比標樣對配備單納 米顆粒應用模塊的 Agilent 7900 ICP-MS 性能進行了評估 Agilent 7900 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀