不同的表面分析技術(shù)，會(huì)量測(cè)不同的迅號(hào)源，一般而言，常用量測(cè)的訊號(hào)源有光子離子以及電子<圖1-11>其中光子因穿透深度以及訊號(hào)逃離深度都很大，較少用離子因具有高偵測(cè)靈敏度高解析度以及高表面靈敏性（surface sensitive），是理想的表面分析訊號(hào)源，用於在二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）分析技術(shù)因電子訊號(hào)有表面靈敏性高解析度以及訓(xùn)號(hào)易處理等優(yōu)點(diǎn)，Z常見當(dāng)作表面分析技術(shù)的訊號(hào)源 HYA多路比表面積及孔徑分布測(cè)試儀 HYA石墨比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA六路靜態(tài)容量法比表面及孔隙度分析儀 HYA雙站比表面積及孔隙率分析測(cè)試儀 HYA靜態(tài)容量法比表面積及孔徑分析儀 HYA比表面積及孔隙度分析儀 HYA智能比表面積分析儀 HYA4路靜態(tài)容量法比表面積及孔結(jié)構(gòu)分析儀 HYA單路靜態(tài)容量法比表面積及孔隙度測(cè)試儀 HYA比表面積及孔隙率測(cè)試儀 HYA比表面積測(cè)試儀 6路靜態(tài)法比表面積分析儀 6路比表面積及孔隙度分析儀 多路高智能比表面積測(cè)試儀 智能比表面儀 智能比表面儀 HYA孔徑測(cè)試儀\孔徑分布測(cè)試儀 HYA智能銀粉比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA鐵粉比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA催化劑比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA高智能吸附劑比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA智能納米材料比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA氧化鋅比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA高智能催化劑比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA智能石墨比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA氧化硅比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA孔徑測(cè)試儀\孔徑分布測(cè)試儀 HYA電池材料比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA比表面積測(cè)定儀\比表面積測(cè)量?jī)x HYA氧化鈦比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 HYA智能BET比表面積測(cè)試儀\比表面積分析儀 全自動(dòng)比表面儀 比表面積儀 智能比表面積儀 全自動(dòng)比表面積儀