對(duì)于性氣體和輕質(zhì)烴的分析而言，當(dāng) PLOT 色譜柱的固定相顆粒脫落進(jìn)入氣相色譜流路后，將導(dǎo)致您的氣相色譜發(fā)生高成本的損壞和污染顆粒脫落將引起檢測(cè)器信號(hào)尖峰，從而干擾色譜峰積分類似地，在使用 GC-SCD 進(jìn)行硫分析時(shí)，較高程度的柱流失可能污染檢測(cè)器陶瓷管，導(dǎo)致檢測(cè)器信號(hào)變差，并由于維護(hù)而造成系統(tǒng)停機(jī)為此安捷倫開發(fā)出了兩種新色譜柱技術(shù)，以保持您的 GC-TCD/FID 和 GC-SCD 儀器系統(tǒng)長(zhǎng)期清潔運(yùn)行，且能改善系統(tǒng)可靠性并提高工作效率