納米材料的分析，應(yīng)該包括其組成和大小的表征許多技術(shù)可以檢測(cè)納米大小的顆粒，但還不能提供有關(guān)粒子組成的信息，并且比較耗費(fèi)時(shí)間和成本但是，電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）具有多元素同時(shí)分析的能力，檢出限低且動(dòng)態(tài)范圍寬，這使得它非常適合用于無機(jī)工程納米顆粒（ENPs）的測(cè)量雖然可以使用ICP-MS直接獲得納米粒子相關(guān)的元素的濃度，而有關(guān)ENPs特征的更多信息可以通過耦合一個(gè)按粒子大小分離的步驟在進(jìn)行ICP-MS分析之前優(yōu)先進(jìn)行分析此應(yīng)用程序中Z常用的大小分離技術(shù)是場(chǎng)流分離（FFF）技術(shù)由此產(chǎn)生的FFF-ICP-MS的聯(lián)用技術(shù)可以提供十億分之一數(shù)量級(jí)水平的納米粒子的分離，檢測(cè)和成分分析的能力這對(duì)納米材料的環(huán)境學(xué)調(diào)查是至關(guān)重要的而且，相似的場(chǎng)流條件需要ICP-MS和FFF的接口相對(duì)簡單 PerkinElmer 等離子質(zhì)譜儀