對選取的電子零器件進(jìn)行外觀檢查，確保無明顯缺陷。

使用數(shù)字萬用表等儀器對電子零器件的初始電性能參數(shù)進(jìn)行測量，如電阻值、電容值、電壓等，并記錄。

根據(jù)電子零器件的常見工作環(huán)境和預(yù)期極端條件，在復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱中設(shè)置不同的溫濕度組合，如高溫高濕（85°C，85%RH）、低溫低濕（-40°C，10%RH）等。

將電子零器件分為若干組，每組在不同的溫濕度條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。

將分組后的電子零器件放入復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱中，按照設(shè)定的溫濕度條件進(jìn)行持續(xù)暴露。

分別在預(yù)定的時間間隔（如 24 小時、48 小時、72 小時等）取出部分電子零器件。

對取出的電子零器件，再次使用數(shù)字萬用表、示波器等儀器測量其電性能參數(shù)，并與初始值進(jìn)行對比。

觀察電子零器件的外觀，檢查是否有變形、開裂、腐蝕等現(xiàn)象。

詳細(xì)記錄每次測量的電性能參數(shù)和外觀變化情況。

對數(shù)據(jù)進(jìn)行整理和分析，繪制電子零器件性能隨溫濕度暴露時間的變化曲線。

完成所有預(yù)定的實(shí)驗(yàn)步驟后，取出所有電子零器件。

對實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行總結(jié)，評估電子零器件在不同溫濕度條件下的耐溫性能。