全文請(qǐng)?jiān)L問(wèn)：
針對(duì)一些特殊材料表面形貌的檢測(cè)需要,在原有國(guó)產(chǎn)商用激光檢測(cè)原子力顯微鏡的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)研制了適用性更廣功能更強(qiáng)的原子顯微鏡在不提高驅(qū)動(dòng)壓的前提下,采用改進(jìn)的掃描管,將掃描范圍從15m ×15m 提高到了50m ×50m;改進(jìn)了原有的微探針掃描模式,在探針上施加一驅(qū)動(dòng)的簡(jiǎn)諧振蕩信號(hào),使探針發(fā)生振蕩由于存在著表面的力梯度,當(dāng)樣品與探針距離發(fā)生振蕩變化時(shí),針尖振蕩的振幅頻率和位相都會(huì)隨之改變用電子信號(hào)反饋電路探測(cè)此變化,就能得到樣品表面形貌的信息 全文請(qǐng)?jiān)L問(wèn)： 掃描探針顯微鏡(SPM/AFM/STM)