- 2025-01-10 10:50:00JEOL FIB-SEM
- JEOL FIB-SEM是一種結(jié)合了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的高端分析儀器。它利用聚焦離子束進(jìn)行樣品的微納加工和精確切割，同時(shí)利用掃描電子顯微鏡觀察樣品的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)。JEOL FIB-SEM具有高分辨率、高精度、多功能等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的樣品制備和分析研究。
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