某研發(fā)生產(chǎn)高性能時(shí)鐘芯片企業(yè), 通過上海伯東推薦, 選用美國 inTEST ATS-545-M 熱流儀與其測試設(shè)備搭配, 為分析時(shí)鐘芯片的各項(xiàng)特性, 提供快速可靠的溫度環(huán)境. 助力企業(yè)填補(bǔ)了國內(nèi)時(shí)鐘領(lǐng)域的技術(shù)空白, 打破國外技術(shù)壁壘, 實(shí)現(xiàn) 5G 通訊時(shí)鐘關(guān)鍵器件的國產(chǎn)化.

時(shí)鐘芯片需要高低溫沖擊測試
時(shí)鐘芯片, 也叫時(shí)鐘電路, 是可以產(chǎn)生像時(shí)鐘一樣準(zhǔn)確運(yùn)動的振蕩電路. 組成時(shí)鐘電路的部件一般包括晶震控制芯片, 晶體振蕩器和電容組成. 時(shí)鐘芯片計(jì)時(shí)精度誤差源于晶體振蕩電路的頻率誤差, 而晶體振蕩頻率都會受到環(huán)境溫度影響, 比如時(shí)鐘芯片在溫度驟降情況下, 晶體的頻率會有一個很大的變化, 所以需要對不同溫度下時(shí)鐘芯片的計(jì)時(shí)誤差進(jìn)行準(zhǔn)確測試. 如果設(shè)計(jì)過程中不驗(yàn)證其不同溫度下的各項(xiàng)性能, 在極端溫度范圍內(nèi)計(jì)時(shí)精度誤差會很大, 影響到時(shí)鐘在使用中的準(zhǔn)度.

上海伯東美國 inTEST 熱流儀時(shí)鐘芯片高低溫沖擊測試方法
通過各類測試方案對比, inTEST 熱流儀可快速模擬需要的測試環(huán)境, 與其他高低溫設(shè)備對比, 在時(shí)效及測試方式等方面更有優(yōu)勢
熱流儀型號: inTEST ATS-545-M
測試對象: 時(shí)鐘芯片
測試溫度范圍: 正常大氣壓下, 工作溫度 -40℃ 至 85℃


1. 啟動 ATS-545-M, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理，然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)設(shè)備內(nèi)部進(jìn)行升溫或降溫
2. 根據(jù)測試要求, 設(shè)置 ThermoStream ATS-545-M 為 Air 或 DUT Mode 模式, 環(huán)境可靠性測試中, 時(shí)鐘芯片通常要求的測試溫度范圍為, 正常大氣壓下, 工作溫度-40℃至85℃.
3. 在測試中, 設(shè)置好需要的 Hot, Ambient 及 Cold 溫度后, 點(diǎn)擊 Head 按鍵, 降低玻璃罩高度, 使測試罩下降并完全罩住測試區(qū)域, 此時(shí)開始進(jìn)行相應(yīng)溫度段的測試.
4. ATS-545-M 顯示屏可實(shí)時(shí)監(jiān)測當(dāng)前循環(huán)沖擊氣流溫度, 而且自帶過熱溫度保護(hù)系統(tǒng), 出廠設(shè)置溫度 +230°C, 操作員可根據(jù)實(shí)際需要設(shè)置高低溫限制點(diǎn), 當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時(shí), 測試機(jī)將自動停機(jī).

inTEST ThermoStream 系列熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度：±1℃, 通過 NIST 校準(zhǔn). 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. 提供適用于射頻, 微波, 電子和高功率設(shè)備的溫度測試熱流儀, 滿足特性和故障分析的需求. 上海伯東作為 inTEST 中國總代理, 全權(quán)負(fù)責(zé) inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù).

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上海伯東: 羅先生