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鈦的應(yīng)用及比表面積分析理論
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本文由 國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司 整理匯編
2024-09-28 01:15 511閱讀次數(shù)
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鈦的應(yīng)用及比表面積分析理論
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鈦的應(yīng)用及比表面積分析理論
- 鈦的應(yīng)用及比表面積分析理論[詳細(xì)]
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2024-09-28 01:15
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鈦的應(yīng)用及其比表面積分析
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比表面積測(cè)試儀的BET理論
- 比表面積測(cè)定儀的BET理論
比表面積測(cè)定儀BET方程推導(dǎo)所采用的模型的基本假設(shè)是:
一、固體表面是均勻的,發(fā)生多層吸附;
二、除**層的吸附熱外其余各層的吸附熱等于吸附質(zhì)的液化熱。推導(dǎo)有熱力學(xué)角度和動(dòng)力學(xué)角
度兩種方法,均以此假設(shè)為基礎(chǔ)。
由其假設(shè)可以看出比表面積測(cè)定儀BET方程推導(dǎo)中,把第二層開(kāi)始的吸附看成是吸附質(zhì)本身
的凝聚,沒(méi)有考慮**層以外的吸附與固體吸附劑本身的關(guān)系(詳細(xì)BET二常數(shù)和三常數(shù)方程,
其熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)的推導(dǎo),若需要可提供)。大量實(shí)驗(yàn)也證實(shí),固體吸附劑的不同所造成其本身
表面能不同而對(duì)吸附質(zhì)**層以外的吸附的影響是很弱的。對(duì)于低溫氮吸附法,氮?dú)庾鳛槲劫|(zhì)
,BET方程成立的條件是要求氮?dú)夥謮悍秶鸀?.05-0.35,其原因也就出于此兩個(gè)假設(shè)(在相對(duì)壓
力小于0.05時(shí)建立不起多層物理吸附平衡,甚至連單分子物理吸附也遠(yuǎn)未形成;而在相對(duì)壓力大
于0.35時(shí),孔結(jié)構(gòu)使毛細(xì)凝聚的影響突顯,定量性及線性變差)。 [詳細(xì)]
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比表面積測(cè)定儀的原理及應(yīng)用
- 比表面積測(cè)定儀的原理及應(yīng)用
一、比表面積測(cè)定儀的原理
比表面積是指單位質(zhì)量物質(zhì)的表面面積,通常用m2/g表示。比表面積測(cè)定儀是一種用于測(cè)定粉末、顆?;蚨嗫撞牧媳砻娣e的儀器。比表面積測(cè)定儀的原理是通過(guò)比較吸附區(qū)域與未被占用區(qū)域之間分子壓縮膜的升降,根據(jù)這種壓縮膜的變化來(lái)測(cè)量材料的比表面積。
二、比表面積測(cè)定儀的測(cè)量方法
在使用比表面積測(cè)定儀進(jìn)行測(cè)量時(shí),需要將樣品置于高真空或氣氛下對(duì)樣品進(jìn)行吸附。隨后,用氣載法或液相法測(cè)量吸附體積,根據(jù)吸附體積,結(jié)合比表面積測(cè)定儀的標(biāo)準(zhǔn)曲線,即可測(cè)得物質(zhì)比表面積。
三、比表面積測(cè)定儀的應(yīng)用域
比表面積測(cè)定儀適用于各種材料的表面積測(cè)試,主要應(yīng)用于以下域:
1. 醫(yī)藥制劑:比表面積測(cè)定器用于測(cè)定新藥物的特性,以改進(jìn)或優(yōu)化制劑制造過(guò)程。
2. 環(huán)境監(jiān)測(cè):比表面積測(cè)定儀可用于檢測(cè)城市空氣中的有機(jī)氣體和重金屬離子等污染物。
3. 工業(yè)應(yīng)用:在制造過(guò)程中,材料的比表面積對(duì)制造工藝、產(chǎn)品性能和質(zhì)量有很大影響,比表面積測(cè)定儀能夠進(jìn)行明確的測(cè)量,從而更好地制造產(chǎn)品。
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2024-09-11 17:52
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2024-09-12 20:57
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比表面積及孔徑分析儀
- 1. 測(cè)試方法:借助于氣體吸附原理,靜態(tài)真空容量法。
2. 測(cè)量范圍:比表面積0.0005m2/g(氪氣吸附)至無(wú)上限。孔徑分析范圍:0.35nm-500nm。孔體積Z小檢測(cè): 0.0001 cc/g。
[詳細(xì)]
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2010-09-03 00:00
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MIE氏散射理論實(shí)驗(yàn)及在激光粒度分析技術(shù)應(yīng)用的研究
- MicrosoftInternetExplorer402DocumentNotSpecified7.8Normal0在激光粒度儀的研制理論應(yīng)用中Mie散射理論主要用于從亞微米至微米的尺寸段,在微米以下至納米的光散射則近似為形式更明晰簡(jiǎn)單的瑞利散射定律,而對(duì)大于微米至毫米的大粒子則近似為意義明確的夫瑯和費(fèi)衍射規(guī)律。用這些定律可成功解釋各類(lèi)散射現(xiàn)象,并指導(dǎo)微粒的粒度分布的測(cè)試技術(shù)[1]。本文在分析國(guó)內(nèi)外微粒散射理論[2,3,4,5]和測(cè)試技術(shù)[6,7,8]基礎(chǔ)上,為了將亞微米乃至納米范圍內(nèi)的顆粒更加極ng確地測(cè)量其粒徑大小,實(shí)驗(yàn)中采用光子技術(shù),合理地設(shè)計(jì)樣品池與入射光之間的角度[9],很好地提高了實(shí)驗(yàn)精度,得到與Mie理論吻合較好的結(jié)果,并創(chuàng)新提出采用光纖探頭結(jié)合光電倍增管與光子計(jì)數(shù)器作探測(cè)器的粒度儀,較有限環(huán)靶更好地適用于亞微米顆粒的粒度測(cè)試,并可更好和計(jì)算機(jī)接口,提高測(cè)試水平,從而大大提高了小顆粒粒度測(cè)量的分辨能力,并在此基礎(chǔ)上探測(cè)性地研究新一代亞微米顆粒檢測(cè)儀器。[詳細(xì)]
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