本文由 白山市玖久儀器儀表有限公司 整理匯編

2018-10-07 10:00 369閱讀次數(shù)

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• 四探針電阻率測試儀DK32-KDY-4

  四探針電阻率測試儀DK32-KDY-4DK32-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準（ASTMF84）及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。整套儀器有如下特點：1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更極ng確。數(shù)字電壓表量程：0199.9mV靈敏度：100μV輸入阻抗：1000ΜΩ基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）2、可測電阻率范圍：1031.9×103Ωcm?？蓽y方塊電阻范圍：1021.9×104Ω/□。3、設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。6、四探針頭采用國際上先進的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提高[詳細]

  2018-10-07 10:00

  產(chǎn)品樣冊

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• 四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-30 00:11

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• 四探針電阻率測試儀的使用方法

  一、參數(shù)指標 測量半導電電阻率時： 電阻率10-5--105Ω-cm；分辯率10-6Ω-cm 測量其他（電線電纜）電阻時： 電阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ 二、測試四探針筆 一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進行操作： 1、先松開筆身尾部端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接 2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可。 3、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。 4、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲， 5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部[詳細]

  2024-09-11 17:53

  其它

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• 四探針半導體粉末電阻率測試儀測試原理

  四探針半導體粉末電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器。它采用了四個探針，通過測量材料電阻對電流的響應來計算出材料的電阻率。下面將詳細介紹這種測試儀的原理和工作過程。 我們需要了解什么是電阻率。電阻率是材料對電流的阻礙程度的度量，通常用符號ρ表示，單位是Ω·m。電阻率越小，材料的導電性越好。而電阻則是電阻率與材料長度和橫截面積的乘積，可以用來描述材料的電阻大小。 四探針半導體粉末電阻率測試儀通過將四個探針嵌入待測試的材料中，形成一個測量電流的電路。其中兩個探針用于施加電壓，另外兩個探針用于測量電流。通過測量電壓和電流的關系，就可以計算出材料的電阻率。 具體的測試過程如下： 1. 首先，將待測試的材料放置在測試儀的測試臺上，并將四個探針插入材料中。為了確保測量的準確性，探針應該均勻分布在材料表面，并且彼此之間的距離應該足夠遠。 2. 接下來，通過測試儀的控制面板設置測量參數(shù)，包括施加的電壓和測量的電流范圍。通常，電壓的大小應該適中，既能夠產(chǎn)生足夠大的電流，又不會損壞材料。 3. 當設置好參數(shù)后，開始進行測量。測試儀會自動施加電壓，并通過另外兩個探針測量電流。根據(jù)歐姆定律，[詳細]

  2023-10-11 16:18

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• 四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊

  四探針方阻 電阻率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-27 23:58

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• 四探針/電阻率/方塊電阻測試

  四探針/電阻率/方塊電阻測試[詳細]

  2024-09-13 17:06

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• 進口四探針電阻率測試儀(4PP)/方塊電阻測試儀產(chǎn)品樣冊

  進口四探針電阻率測試儀(4PP)/方塊電阻測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-16 03:38

  課件

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• jjg 508-2004 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程.pdf

  jjg 508-2004 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程.pdf[詳細]

  2015-05-12 00:00

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• 玖久便攜式四探針電阻率測試儀簡單介紹

  玖久便攜式四探針電阻率測試儀簡單介紹我公司向您介紹的便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ωcm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準一級機的水平。產(chǎn)品技術性能：（1）測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9Ωcm?？蓽y方塊電阻：0.1～1999Ω/口當被測材料電阻率≥200Ωcm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC0.1mA～10mA分兩檔10mA量程：0.1～1mA連續(xù)可調10mA量程：1mA～10mA連續(xù)可調恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv靈敏度：100μv準確度：0.2%（±2個字）（4）供電電源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用環(huán)境：相對濕度≤80%（6）重量、體積重量：2.2公斤體積：寬210×高100×深240（mm）（7）KD探針頭壓痕直徑：30/50μm間距：1.00mm探針合力：8±1N針材：TC[詳細]

  2018-10-07 10:01

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• 方阻儀/四探針電阻率檢測儀KDK-KDY-1

  低阻型四探針檢測儀/方阻儀/四探針電阻率檢測儀型號;KDK-KDY-1儀器采用GB/T1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法（2）范圍：電阻率10-5～10+3歐姆厘米，分辨率為10-5歐姆厘米方塊電阻10-4～10+4歐姆/□，Z小分辨率為10-4歐姆/□（3）可測量材料：半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等可準確測量的半導體尺寸：直徑≥20可測量的半導體尺寸：直徑≥8（4）測量方式：平面測量。（5）電壓表：雙數(shù)字電壓表，可同時觀察電流、電壓變化A.量程0~19.999mVB.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)C.靈敏度：1uVD輸入阻抗1000MΩE41/2位數(shù)字顯示，0～19999（6）恒流源：A.電流輸出：直流電流0.003～100mA連續(xù)可調，有交流電源供給B.量程：10uA，100uA，1mA，10mA，100mA五檔C.恒流源精度：各檔均≤±0.05%（7）四探針測試探頭A.探頭間距1.59B.探針機械游率：±0.3%C.探針直徑0.8D.探針材料：碳化鎢，探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。（8）測試架：（選配）手動測試架：KDJ-1A型手動測試架探頭上下由手動操作，可以用作斷面單晶棒和硅片測試，探針頭可上下移動距離：120mm，測試臺面200x200(mm)。（9）精度電器精度：1-1000歐姆≤0.3%整機測量精度：1-100歐姆厘米≤3%（10）電流：220V±10%，50HZ，功率消耗35W注：如果測金屬粉末電阻率必把樣品壓成塊或片才能測[詳細]

  2018-09-24 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• KLA R54 四探針電阻率測量儀

  KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導體制造到實現(xiàn)可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都相當重要。KLA R54 四探針電阻率測量儀在功能上[詳細]

  2025-06-27 14:58

  產(chǎn)品樣冊

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• KLA R50 四探針電阻率測量儀

  KLA R50 四探針電阻率測繪系統(tǒng)是KLA電阻測試系列的產(chǎn)品。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都相當重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品。KLA R50 四探針電阻率測量儀在金屬[詳細]

  2025-06-27 14:59

  產(chǎn)品樣冊

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• KDY-1A四探針電阻率測定儀使用說明書

  使用方法：（1）在背板上電源插座插好電源線、四探針頭連接線，檢查保險絲管有無松動。（2）打開背板上的電源開關（將I按下）此時面板上的數(shù)字表及各控制開關上均有指示燈點亮。（3）從左向右，察看控制開關，先將電流換檔開關置于“1mA”,在測硅片、硅塊時ρ/R置于“ρ”，在測方塊電阻時ρ/R置于“R”，校準/測量檔選在“校準”。（4）將四探針頭壓在樣品上，此時數(shù)字表上顯示的是測量電流;如選用間距為1.00mm的四探針頭，在10mA檔時,調節(jié)粗調、細調旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，即I=6.28mA。在1mA檔時,調節(jié)粗調、細調旋鈕，使數(shù)字表顯示62.8，即I=0.628mA。如選用間距為1.59mm的四探針頭，在10mA檔時,調節(jié)粗調、細調旋鈕，使數(shù)字表顯示10.0，即I=10mA。在1mA檔時,調節(jié)粗調、細調旋鈕，使數(shù)字表顯示100.0，即I=1mA。（5）將Z右邊的按鈕按下，測量燈亮。此時數(shù)字表上顯示的是欲測樣品電阻率，樣品電阻率在1.0Ωcm至199.9Ωcm之間均可用此檔（1mA）測量，如數(shù)字表顯示1，后三位全不顯示時，表示材料電阻率大于200Ωcm。（6）電流選擇電阻率≥1Ωcm時選用1mA檔測量。方塊電阻≥10Ω/□時選用1mA檔測量。電阻率≤1Ωcm時選用10mA檔測量。方塊電阻≤10Ω/□時選用10mA檔測量。例如:選用間距為1.00mm的四探針頭，當電流換檔開關按到10mA檔燈亮，將測量/校準開關按至“校準”燈亮，調節(jié)下面的粗、細調旋鈕，使數(shù)字表顯示6.28，此時測量電流即為6.28mA。將測量/校準開關按至測量時燈亮，此時讀出的數(shù)即是電阻率值，測量范圍在0.01至1.00Ωcm，如數(shù)字表顯示0.00時，即表示材料電阻率很低，已小于0.01Ωcm。測量硅片電阻率時，請先用卡尺測出厚度，再在校準檔按附表調節(jié)好電流后，轉到測量檔即可方便讀出電阻率數(shù)。文章來源：北京綠野創(chuàng)能機電設備有限公司[詳細]

  2018-09-29 10:01

  產(chǎn)品樣冊

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• CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導率測試儀產(chǎn)品樣冊

  CDE resmap 273 四探針面掃描電阻率電導率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-30 13:39

  期刊論文

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• 高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊

  高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2024-09-11 17:59

  其它

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• CDE resmap 168 全自動四探針面掃描電阻率電導率測試儀產(chǎn)品樣冊

  CDE resmap 168 全自動四探針面掃描電阻率電導率測試儀產(chǎn)品樣冊[詳細]

  2016-10-18 14:23

  專利

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• 粉末電阻率測試儀（四探針法）簡介

  粉末電阻率測試儀（四探針法） 產(chǎn)品名稱：粉末電阻率試驗儀（四探針法） 產(chǎn)品型號：FTDZS-I 參考標準：YS T 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6 部分：粉末電阻率的測定.pdf GB/T 24525-2009 炭素材料電阻率測定方法 GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》中關于粉末電導率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作 粉末電阻率試驗儀主要用于測量粉末材料電阻率試驗的專用儀器. 由于粉末材料的密實度不同,在松裝和振實密度條件下,所測試得到的數(shù)據(jù)是不同的,所以測試粉末電阻,要求在規(guī)定的壓力條件下進行測試.便于進行有效數(shù)據(jù)的測試及對比. 儀器由主機、測試架兩大部分組成。主機包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源測量試驗設置通過觸摸屏進行操作和設置，頁面布局合理，人性化設計，可對測試結果進行打印。 儀器具有測量精度高、穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便等特點，符合國際和國家標準的要求。 儀器適用于導體粉末、半導體粉末、炭素材料等行業(yè)，進行檢測測試設備。[詳細]

  2024-09-11 17:47

  其它

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• 數(shù)字式電阻率測試儀 電阻率測試儀M-2型號

  數(shù)字式電阻率測試儀電阻率測試儀型號：M-2M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量。儀器由主機，測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果用數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準確，游移率較小，壽命長。儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別適用于要求快速測量中低電阻率的場合.M-2型數(shù)字式電阻率測試儀工作條件為：溫度：相對濕度：60%~70%工作室內(nèi)應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源二M-2型數(shù)字式電阻率測試儀技術參數(shù)1.測量范圍：電阻率：10-2~102Ω-cm方塊電阻：10-1~103Ω/□電阻：10-3~9999Ω2.可測半導體材料尺寸直徑：15mm-100mm長（或高）度：≤400mm3.測量方位：軸向，徑向均可4.數(shù)字電壓表量程：2V誤差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點自動顯示5.數(shù)控恒流源電流輸出：直流電流2μA~2mA,2μA步進可調，系統(tǒng)自動調整。誤差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探針測試探頭：探針間距：1mm探針機械游移率：±1%探針：碳化鎢，直徑0.5mm7.電源：DC4.5V~8V功耗：<1W電源適配器：輸入：220V±10%50Hz輸出：DC5V±10%8.外形尺寸：主機：170mm(長)X130mm(寬)X50mm(高)北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司聯(lián)系人：王汝玄（銷售經(jīng)理）聯(lián)系方式：18910534055010-51663485QQ:3098386443郵箱：3098386443@qq.com網(wǎng)址：www.5117sell。。ｃｏｍ[詳細]

  2018-10-05 10:00

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• M-2 型 數(shù)字式電阻率測試儀 電阻率測試儀

  數(shù)字式電阻率測試儀電阻率測試儀型號：M-2M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量。儀器由主機，測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果用數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準確，游移率較小，壽命長。儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別適用于要求快速測量中低電阻率的場合.M-2型數(shù)字式電阻率測試儀工作條件為：溫度：相對濕度：60%~70%工作室內(nèi)應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源二M-2型數(shù)字式電阻率測試儀技術參數(shù)1.測量范圍：電阻率：10-2~102Ω-cm方塊電阻：10-1~103Ω/□電阻：10-3~9999Ω2.可測半導體材料尺寸直徑：15mm-100mm長（或高）度：≤400mm3.測量方位：軸向，徑向均可4.數(shù)字電壓表量程：2V誤差:：±0.1%FSB±2LSBZda分辨力：10μA精度：18位ADC(51/2位)顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點自動顯示5.數(shù)控恒流源電流輸出：直流電流2μA~2mA,2μA步進可調，系統(tǒng)自動調整。誤差：±0.1%FSB±0.5LSB6.四探針測試探頭：探針間距：1mm探針機械游移率：±1%探針：碳化鎢，直徑0.5mm7.電源：DC4.5V~8V功耗：<1W電源適配器：輸入：220V±10%50Hz輸出：DC5V±10%8.外形尺寸：主機：170mm(長)X130mm(寬)X50mm(高)[詳細]

  2018-10-05 10:00

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• 四點探針測試儀 四點探針 CDE

  四點探針測試儀 四點探針 CDE[詳細]

  2024-09-28 13:20

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