二手 日立 SEM+EDX冷場(chǎng)電鏡主要技術(shù)指標(biāo)：

     電子光學(xué)系統(tǒng)：分辨率：≥1.0nm(加速電壓15kV), ≥2.0nm(加速電壓1kV), ≥1.3nm(照射電壓1kV，使用減速裝置或GB方式時(shí)) 放大倍數(shù)：最小≥20倍；最大≤80萬倍（底片模式） 最小≥60倍；最大≤200萬倍（顯示器模式）電子槍：冷場(chǎng)發(fā)射電子槍電子束流：≥1pA, 且連續(xù)可變檢測(cè)器：二次電子檢測(cè)器：配有高位、低位以及頂部二次電子探測(cè)器，每個(gè)探測(cè)器都可以稱二次電子像和背散射電子像，并可以任意比例混合。頂部探頭可以接受高位背散射電子，并可成電位襯度像。

     用于材料的微觀表面觀察與成分分析，包括納米結(jié)構(gòu)材料的觀察和表征。此外，還要求對(duì)一些容易受電子束損傷的樣品和導(dǎo)電性非常差的樣品可以在低加速電壓和/或低真空模式下進(jìn)行直接觀察。

二手 日立 SU-8020冷場(chǎng)電鏡特點(diǎn)：

1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm

2. 日立專利的ExB設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品

3. 配置Lower、Upper和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器

4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像

5. 可以根據(jù)樣品類型和觀測(cè)要求選擇打開或關(guān)閉減速功能

6. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能

7. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶自行完成 

日立 SU8020 掃描電子顯微鏡

• ?核心參數(shù)?：

• ?分辨率?：1.0nm（15kV加速電壓，工作距離4mm）；1.3nm（1kV加速電壓，使用減速功能）；2.0nm（1kV加速電壓） ?12

• 放大倍數(shù)?：20-2,000,000倍 ?13

• ?加速電壓?：0.1-30kV連續(xù)可調(diào) ?12

• ?檢測(cè)器?：配備二次電子檢測(cè)器、背散射電子檢測(cè)器及高位/低位探頭 ?23

SU8020 超聲波流量傳感器

?核心參數(shù)?：

• 測(cè)量范圍?：1-240 l/min（液體）、60-14400 l/h（氣體） ?45

• 工作電壓?：18-32V DC，支持IO-Link通信 ??4

• 材質(zhì)?：不銹鋼測(cè)量管，耐腐蝕、防漏設(shè)計(jì) ?45