Thermo Scientific? 標(biāo)準(zhǔn)樣品支架
Thermo Scientific? 樹脂安裝插件
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Thermo Scientific? 電動(dòng)傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品桿
Thermo Scientific? 微工具樣品支架
產(chǎn)品介紹:
Thermo Scientific Velox 軟件結(jié)合了全面的(掃描)透射電子顯微鏡(STEM 和 TEM)光學(xué)元件和探頭操作,以為您提供出色的實(shí)驗(yàn)控制。Velox 軟件為定量 STEM 和 TEM 材料分析提供高再現(xiàn)性、產(chǎn)量和支持。
Velox 軟件提供了獨(dú)特的軟件包,適用于能量色散 X 射線光譜(EDS,也稱為 EDX)應(yīng)用,與 Thermo Scientific Super-X 和 Dual-X 探頭系統(tǒng)結(jié)合使用。強(qiáng)大的映射引擎結(jié)合了多種針對(duì)透射電子顯微鏡檢查進(jìn)行了優(yōu)化的技術(shù)。即時(shí)漂移校正、遞歸映射、獨(dú)立通道讀出、帶支架補(bǔ)償?shù)莫?dú)特吸收校正:這些技術(shù)可確保以高產(chǎn)量采集一 流的 EDS 光譜圖像。
主要特點(diǎn)
集成的人體工程學(xué)用戶界面
使用漂移校正幀積分 (DCFI) 和快速遞歸映射中的交叉關(guān)聯(lián)等先進(jìn)的漂移補(bǔ)償方法實(shí)現(xiàn)極 致的成像和構(gòu)合映射質(zhì)量。此外,Velox 軟件還為光譜成像提供漂移補(bǔ)償,這是專為具有挑戰(zhàn)性的 TEM 條件設(shè)計(jì)的。
交互式探頭布局界面
通過(guò)交互式探頭布局界面和自動(dòng)存儲(chǔ)所有關(guān)鍵元數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)最 高的再現(xiàn)性和最 佳實(shí)驗(yàn)控制和多探頭工具記錄。
時(shí)間分辨 XEDS
通過(guò)時(shí)間分辨 XEDS 和遞歸映射的"剝離"功能實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)構(gòu)合映射來(lái)進(jìn)行逐幀刪除,以盡量減少對(duì)射束敏感材料進(jìn)行成分分析時(shí)的偽影。
EDS 定量軟件
獨(dú)特、強(qiáng)大的 EDS 定量軟件,可補(bǔ)償任何傾斜角的樣品桿遮擋,具有 4 個(gè)獨(dú)立的探頭讀出器。高速 EDS 定量在采集期間提供實(shí)時(shí)反饋,以及快速的 EDS 數(shù)據(jù)后處理。
高對(duì)比度成像
采用獨(dú)特的集成式微分相襯 (iDPC) 模式對(duì)輕重元素進(jìn)行高對(duì)比度原子成像。對(duì)輕樣品進(jìn)行低劑量高對(duì)比度成像,以在自然狀態(tài)下對(duì)射束敏感材料進(jìn)行成像。
動(dòng)態(tài)檢查
適用于動(dòng)態(tài)檢查的靈活 STEM 和 TEM 視頻錄制。
性能數(shù)據(jù)
TEM 成像 | 支持的硬件 | 具有速度增強(qiáng)功能的 Ceta 攝像機(jī) |
像素 | 512、1k、2k、4k、像素組合 2 倍、4 倍、8 倍 | |
STEM 成像 | 支持的硬件 | HAADF 探頭、三段式 BF/DF 探頭、Panther STEM 探頭系統(tǒng) |
信號(hào)數(shù) | 最 多 5 個(gè) STEM 信號(hào),或最 多 9 個(gè) STEM+EDS 信號(hào) | |
速度 | 50 ns/像素 | |
能量色散 X 射線分析* | 支持的硬件 | SuperX G1/SuperX G2/DualX/SingleX |
多模態(tài) | STEM+EDS、STEM+EDS+EELS 和 STEM+攝像機(jī)+EDS | |
系統(tǒng)要求 | 采用 Windows 7 或 Windows 10 64 位操作系統(tǒng)的 Thermo Scientific Talos 和 Themis STEM 和 TEM 平臺(tái) | |
* 選配件,僅當(dāng)相應(yīng)硬件是色譜柱配置的一部分時(shí)功能才可用。
上傳人:賽默飛電子顯微鏡
大小:0 B
405
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已咨詢650次其它無(wú)損檢測(cè)儀器/設(shè)備
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在研究先進(jìn)材料時(shí),首先需要對(duì)樣品的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分有深刻的了解。無(wú)論您是想實(shí)現(xiàn)下一次技術(shù)創(chuàng)新,還是專注于產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn),這些性息都能幫助您更加了解初始材料的性能,評(píng)估缺陷,并確保成品的質(zhì)量
用于自動(dòng)化、高通量半導(dǎo)體晶片分析的 TEM 分析樣品制備工作。
提供高分辨率 X 射線光電子能譜和成像的多技術(shù)表面分析儀。
用于快速原型設(shè)計(jì)和半導(dǎo)體電路調(diào)試和維修的電路編輯技術(shù)。