用于自動化、高通量半導體晶片分析的 TEM 分析樣品制備工作。

提供高分辨率 X 射線光電子能譜和成像的多技術(shù)表面分析儀。

支持范圍廣泛的用戶: 憑借完全數(shù)字化的界面、領先的人體工程學設計以及遙控特征，Talos F200C TEM 使較廣范圍的用戶都能夠擁有功能強大的生物及生物材料樣品三維表征能力。

The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化，ZG的穩(wěn)定性及操作的便捷性，從而提供可靠的ZJ成像性能。

完全集成飛秒激光系統(tǒng)的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB，這是一臺先進的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級分辨率實現(xiàn)快速3D表征毫米尺度...

冷凍電鏡單顆粒分析技術(shù)（Single Particle Analysis，SPA）可測定蛋白、蛋白復合物和其他生物大分子近原子分辨率的三維結(jié)構(gòu)。這一成功得益于玻璃化技術(shù)的應用，樣品以很快的速度冷凍，與...

Talos? 是新一代 TEM 產(chǎn)品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數(shù)據(jù)，從而專注于研究發(fā)現(xiàn)。

該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導體結(jié)構(gòu)的詳細圖像，包括金屬有機框架，沸石和聚合物，如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX（能量分散X射線）或EELS（電...

Apreo 復合透鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和材料對比度。 Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，而不會降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡...

Quanta x50系列掃描電子顯微鏡是FEI公司zuixin一代的、真正的多用途掃描電鏡，是的Quanta產(chǎn)品家族的第三代產(chǎn)品。

Talos F200X S / TEM可在多個維度上提供zui快，zui精確的納米材料定量表征。 Talos F200X S / TEM具有旨在提高產(chǎn)量，精度和易用性的創(chuàng)新功能，是學術(shù)，政府和工業(yè)研究...