產(chǎn)品簡介:
設(shè)備利用X射線測量防水板、塑料板等板材的厚度,并通過APC控制系統(tǒng)根據(jù)厚度尺寸控制生產(chǎn)線各個模頭的加熱溫度,實現(xiàn)對產(chǎn)品質(zhì)量的自動控制。
功能簡述:
測量模式可設(shè)定為定點測量和掃描測量,定點測量時將測量頭移動到固定位置測量;掃描測量時X射線的發(fā)射器和接收器同步移動對被測板面進行掃描測量,掃描過程中系統(tǒng)記錄各坐標(biāo)位置的厚度尺寸,并統(tǒng)計半個掃描周期內(nèi)的厚度值和平均值等。測量時,測量軟件界面實時顯示被測截面的動態(tài)圖形;實時顯示測量數(shù)據(jù)動態(tài)波動趨勢。當(dāng)測量數(shù)據(jù)在設(shè)定的范圍內(nèi)變動時,數(shù)據(jù)呈現(xiàn)綠色;當(dāng)測量數(shù)據(jù)超差(即超出設(shè)定的范圍)時,數(shù)據(jù)的顏色呈紅色,相應(yīng)動態(tài)圖形輪廓超出閾值。
波動圖界面可通過波動曲線顯示出測量值的尺寸波動變化;缺陷分析圖界面可通過進度條的顏色變化顯示出測量值的缺陷位置及缺陷類型等等。
軟件功能:
產(chǎn)品參數(shù)設(shè)置:可設(shè)置產(chǎn)品規(guī)格、正負公差、卷號增量等參數(shù);
系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置:可設(shè)置通信端口、刷新頻率、系統(tǒng)的校零等;
控制參數(shù)設(shè)置:可設(shè)置掃描寬度、掃描速度、定點測量等;
數(shù)據(jù)存儲:可連續(xù)測量連續(xù)記錄,記錄結(jié)果可用測量軟件打開,也可轉(zhuǎn)換成Excel格式,存儲時間大于1年;歷史數(shù)據(jù)查詢,可查詢某一時刻的尺寸;
報警設(shè)置:可設(shè)置超差、超溫報警的形式和閾值;
自動標(biāo)定功能:在自動掃描和檢測過程中,厚度測頭會定期進入標(biāo)定位置進行自動標(biāo)定(一般是三十分鐘一次)。自動標(biāo)定時,厚度測頭將對厚度信號進行自動檢查和校正。檢查和校正結(jié)束后,系統(tǒng)重新進入自動掃描狀態(tài);
手動標(biāo)定功能:系統(tǒng)可以通過測量軟件系統(tǒng)對厚度測頭進行手動標(biāo)定,手動標(biāo)定時點擊測量軟件界面上的“標(biāo)定”系統(tǒng)驅(qū)動厚度測頭進入標(biāo)定位置進行標(biāo)定;
適用范圍:
可用于鋼板、橡膠板、止水帶等的在線精密測量和控制。
技術(shù)參數(shù):
1、厚度測量范圍(mm):0~20 ;
2、測量精度(mm):≤±0.02 ;
3、測量點數(shù):1 ;
4、測量方式:掃描測量、固定位置定點測量 ;
5、掃描寬度(mm):≤4500 ;
6、掃描速度(mm/s):50~150可調(diào) ;
7、電源電壓(V):AC 220±10% ,50Hz ;
8、被測物允許溫度(℃):0~200 ;
9、允許被測物速度(m/s):≤10 ;
報價:面議
已咨詢159次測厚儀
報價:面議
已咨詢1202次在線測厚儀
報價:¥500000
已咨詢518次X射線熒光測厚儀
報價:面議
已咨詢2157次
報價:面議
已咨詢3404次X射線式
報價:面議
已咨詢108次成像系統(tǒng)
報價:面議
已咨詢3412次
報價:面議
已咨詢10791次X射線熒光分析儀(XRF)
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。
Bowman K系列 XRF 高精度鍍層測量系統(tǒng)在高度不超過9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可測量區(qū)域。自動多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸,以適應(yīng)各種特征尺寸;可變焦攝像頭允許在0.25英寸到3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進行測量。伺服電機驅(qū)動的可編程平臺可實現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的可編程樣品定位。懸臂門設(shè)計方便操作人員進行樣品放置
可用于鋼板、橡膠板、止水帶等的在線精密測量和控制
全自動樣品臺; 多種尺寸的準(zhǔn)直器可選,適合各種大小產(chǎn)品的鍍層測試; 鐳射對焦系統(tǒng),避免人為肉眼對焦產(chǎn)生測量誤差。
曉INSIGHT旨在為鍍層分析應(yīng)用提供精準(zhǔn)高效的分析方法。曉INSIGHT易于操作,配置靈活,可輕松超薄鍍層的挑戰(zhàn)。
日立 FT230型X射線熒光測厚儀(正比例計數(shù)器)包括用于常規(guī)測量普通電鍍的正比計數(shù)探測器,并集成先進且易于使用的功能,旨在增強大批量測試需求。