安東帕無(wú)汞式孔徑分析儀PoreMaster eGaIn加注站
安東帕表面力學(xué)測(cè)試平臺(tái)Step
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安東帕比表面和孔徑分析儀:Nova系列
高溫超納米壓痕測(cè)試儀 (UNHT3 HTV)
第一臺(tái)真正意義的商品化的高溫高真空超納米壓痕儀,主要測(cè)量小載荷下納米尺度機(jī)械性能的測(cè)試系統(tǒng),溫度在 800 °C 以下的薄膜和涂層的硬度和彈性模量。 UNHT3 技術(shù)與獨(dú)特的加熱功能結(jié)合,可提供在任何溫度下的高穩(wěn)定性測(cè)量解決方案。
主要特點(diǎn) 新一代的高溫納米壓痕測(cè)試儀
環(huán)境條件下zuidi熱漂移 (< 0.5 nm/min) 和整個(gè)溫度范圍內(nèi)zuidi熱漂移 (< 3 nm/min)。
載荷框架剛度 (>>106 N/m) 和zuidi框架柔度 (<<0.1 nm/mN):兩套獨(dú)立的位移和載荷傳感器與高精度電容傳感器結(jié)合,可選擇“控制位移”和“載荷控制”模式。
高真空系統(tǒng)具有 5 軸磁懸浮渦輪泵和緩沖系統(tǒng),允許在測(cè)量期間關(guān)閉初級(jí)泵,使振動(dòng)降至zuidi。
獨(dú)特的加熱控制系統(tǒng)(3 項(xiàng)待批),采用3 個(gè)紅外 (IR) 加熱器分別用于給壓痕針尖、參比針尖和樣品進(jìn)行加熱,以及 4 個(gè)熱電偶用于將樣品表面溫度控制到 變化在0.1°C 內(nèi)。
符合 ISO 14577 和 ASTM E2546 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)指標(biāo)
| 載荷 | |
|---|---|
| 最大載荷 | 100 mN |
| 載荷分辨率 | 6 nN |
| 本底噪音 | 0.5 [rms] [μN(yùn)]* |
| 位移 | |
| 最大位移 | 100 μm |
| 位移分辨率 | 0.003 nm |
| 本底噪音 | 0.15 [rms] [nm]* |
| 極限真空度 | 10? mBar |
| 溫度 | 800 °C |
報(bào)價(jià):面議
已咨詢2352次表界面物性測(cè)試儀器
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已咨詢630次激光設(shè)備
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已咨詢936次納米壓痕測(cè)試儀
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已咨詢2794次表界面物性測(cè)試儀器
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已咨詢2423次表界面物性測(cè)試儀器
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已咨詢3120次
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已咨詢930次納米壓痕測(cè)試儀
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已咨詢2457次表界面物性測(cè)試儀器
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試??苫Q的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大的動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損測(cè)試以及高溫測(cè)試。
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大,因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng),包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、
KLA公司全系列的力學(xué)測(cè)試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動(dòng)原理的加載力激發(fā)器, iNano臺(tái)式納米壓痕儀。對(duì)納米壓痕物理模型和優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動(dòng)原理的深刻理解,以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計(jì)。
透射電鏡多尺度、多視角(明、暗場(chǎng)像,電子衍射, 化學(xué)成分)的實(shí)驗(yàn)分析能力,基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器。
為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開(kāi)發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試;也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動(dòng)態(tài)力
FT-NMT04納米機(jī)械測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭,能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。
InSEM HT(高溫)通過(guò)在真空環(huán)境中單加熱尖端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或立真空室兼容。