原位自動納米操作系統(tǒng)LF-2000原位納米
納米壓痕儀 In-SEM HT高溫原位納米壓痕儀
壓痕儀 FT-NMT04納米力學(xué)性能測試系統(tǒng)
壓痕儀 Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
拉伸臺 Swift Tensile Stage原位拉伸臺
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試;也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動態(tài)力學(xué)分析(DMA)、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試,可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進(jìn)行快速壓痕測量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均相材料的重要手段。

硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
Nanoflip納米壓痕測量各種材料的硬度和模量,從超軟凝膠到硬涂層。
連續(xù)剛度測試(CSM)
連續(xù)剛度測量用于量化動態(tài)材料特性,如應(yīng)變率和頻率誘導(dǎo)效應(yīng)。NanoFlip納米壓頭提供從0.1Hz到1kHz的動態(tài)頻率,根據(jù)深度或頻率連續(xù)測量接觸剛度。

高速材料性能Mapping(3D/4D)
對于復(fù)合材料,不同區(qū)域的力學(xué)性能差異很大。NanoFlip在X軸和Y軸上提供21mm的樣品臺移動,在Z軸上提供25mm的樣品臺移動,允許在樣品區(qū)域上測試大范圍高度變化的樣品。地形和斷層掃描軟件可以快速生成多種測量機(jī)械性能的彩色譜圖。

納米動態(tài)力學(xué)分析
聚合物是非常復(fù)雜的材料。為了獲得聚合物的有用信息,應(yīng)在相關(guān)背景下對相關(guān)樣品進(jìn)行機(jī)械性能測量。納米壓痕測試使這種測量變得更容易,因為樣品可以很小,并且制備所需要的量少。納米壓痕系統(tǒng)可以通過振蕩壓頭與材料接觸的方式來測量聚合物的復(fù)合模量和粘彈性性能。

定量劃痕磨損測試
Nanoflip可以對各種材料進(jìn)行劃痕和磨損測試。涂層和薄膜要經(jīng)過許多加工過程,例如化學(xué)和機(jī)械拋光(CMP)和金屬絲粘合,以測試這些薄膜的強(qiáng)度和它們在基底上的粘附力。對于這些材料來說,在這些過程中抵抗塑性變形并保持完整而不起泡是非常重要的。

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已咨詢230次In-SEM微納米力學(xué)
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已咨詢2458次表界面物性測試儀器
iMicro納米壓痕儀作為KLA旗下旗艦級力學(xué)測試平臺,融合電磁驅(qū)動技術(shù)、模塊化功能擴(kuò)展與工業(yè)級高通量測試能力,為材料研發(fā)與質(zhì)量控制提供從納米到微米尺度的全維度力學(xué)表征方案。
在尖端材料研發(fā)與工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域,納米尺度的力學(xué)性能直接決定了產(chǎn)品壽命與可靠性。KLA G200X納米壓痕儀憑借全電磁力驅(qū)動、100kHz超高速采集及模塊化多場景適配能力,已成為全球?qū)嶒炇遗c高端制造的“性能解碼器”。
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。可互換的驅(qū)動器能夠提供大的動態(tài)范圍的力荷載和位移,使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復(fù)的測試。模塊化選項適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。該儀器的力荷載和位移測量動態(tài)范圍很大,因而可以實現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料可重復(fù)測試。模塊化選項適用于各種應(yīng)用:材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測試擴(kuò)展選項,包括樣品加熱、連續(xù)剛度測量、
KLA公司全系列的力學(xué)測試產(chǎn)品均采用電磁驅(qū)動原理的加載力激發(fā)器, iNano臺式納米壓痕儀。對納米壓痕物理模型和優(yōu)線性特性的電磁力驅(qū)動原理的深刻理解,以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設(shè)計。
透射電鏡多尺度、多視角(明、暗場像,電子衍射, 化學(xué)成分)的實驗分析能力,基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學(xué)實驗儀器。
為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開發(fā)了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。
NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測試;也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進(jìn)行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動態(tài)力